(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
几何尺寸测量相关标准参考信息
GB/T 15077-2008 贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法
简介：本方法规定了用直接测量法测定贵金属及其合金板、带、丝、管、线、棒材和复合材料几何尺寸的方法。本方法适用于贵金属及其合金板、带、管、丝、线、棒材和复合材料几何尺寸的测量。测量范围：软金属（纯金和纯银）丝材、线材和棒材直径大于0.1mm，硬金属丝材、线材和棒材直径大于0.03mm；软金属（纯金和纯银
信息：ICS：77.120.99 CCS：H68 发布：2008-03-31 实施：2008-09-01
GB/T 15077-2008 贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法
简介：本方法规定了用直接测量法测定贵金属及其合金板、带、丝、管、线、棒材和复合材料几何尺寸的方法。本方法适用于贵金属及其合金板、带、管、丝、线、棒材和复合材料几何尺寸的测量。测量范围：软金属（纯金和纯银）丝材、线材和棒材直径大于0.1mm，硬金属丝材、线材和棒材直径大于0.03mm；软金属（纯金和纯银
信息：ICS：77.120.99 CCS：H68 发布：2008-03-31 实施：2008-09-01
GB/T 15077-2008 贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法
简介：本方法规定了用直接测量法测定贵金属及其合金板、带、丝、管、线、棒材和复合材料几何尺寸的方法。本方法适用于贵金属及其合金板、带、管、丝、线、棒材和复合材料几何尺寸的测量。测量范围：软金属（纯金和纯银）丝材、线材和棒材直径大于0.1mm，硬金属丝材、线材和棒材直径大于0.03mm；软金属（纯金和纯银
信息：ICS：77.120.99 CCS：H68 发布：2008-03-31 实施：2008-09-01
GB/T 15077-1994 贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法
简介：本标准规定了贵金属及其合金板、带、管、线、棒材和复合材料几何尺寸的测量方法。 本标准适用于贵金属及其合金板、带、管、线、棒材和复合材料几何尺寸的测量。 本标准也可用于其他金属材料几何尺寸的测量
信息：ICS：77.040.30 CCS：H21 发布：1994-05-11 实施：1994-12-01
GB/T 15077-1994 贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法
简介：本标准规定了贵金属及其合金板、带、管、线、棒材和复合材料几何尺寸的测量方法。 本标准适用于贵金属及其合金板、带、管、线、棒材和复合材料几何尺寸的测量。 本标准也可用于其他金属材料几何尺寸的测量
信息：ICS：77.040.30 CCS：H21 发布：1994-05-11 实施：1994-12-01
GB/T 15077-1994 贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法
简介：本标准规定了贵金属及其合金板、带、管、线、棒材和复合材料几何尺寸的测量方法。 本标准适用于贵金属及其合金板、带、管、线、棒材和复合材料几何尺寸的测量。 本标准也可用于其他金属材料几何尺寸的测量
信息：ICS：77.040.30 CCS：H21 发布：1994-05-11 实施：1994-12-01
DIN 50441-1-1996 半导体工艺材料试验.半导体片几何尺寸测量.第1部分:厚度和厚度变化
简介：The method covers determination of the thickness of circular or D-shaped semiconductor wafers with any surface quality by using both contactless
信息：ICS：29.045 CCS：H82 发布：1996-07 实施：
DIN 50441-1-1996 半导体工艺材料试验.半导体片几何尺寸测量.第1部分:厚度和厚度变化
简介：The method covers determination of the thickness of circular or D-shaped semiconductor wafers with any surface quality by using both contactless
信息：ICS：29.045 CCS：H82 发布：1996-07 实施：
DIN 50441-1-1996 半导体工艺材料试验.半导体片几何尺寸测量.第1部分:厚度和厚度变化
简介：The method covers determination of the thickness of circular or D-shaped semiconductor wafers with any surface quality by using both contactless
信息：ICS：29.045 CCS：H82 发布：1996-07 实施：
ANSI/TIA-455-219-2002 FITP219多芯光纤套管端面的几何尺寸测量
简介：Defines a test procedure to assess endface geometry in guide-pin based multifiber ferrules
信息：ICS：33.180.20 CCS：M11 发布：2002 实施：
ANSI/TIA-455-219-2002 FITP219多芯光纤套管端面的几何尺寸测量
简介：Defines a test procedure to assess endface geometry in guide-pin based multifiber ferrules
信息：ICS：33.180.20 CCS：M11 发布：2002 实施：
ANSI/TIA-455-219-2002 FITP219多芯光纤套管端面的几何尺寸测量
简介：Defines a test procedure to assess endface geometry in guide-pin based multifiber ferrules
信息：ICS：33.180.20 CCS：M11 发布：2002 实施：
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
