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(高新技术企业)
硅化硼相关标准参考信息
GB/T 40109-2021 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2021-05-21 实施：2021-12-01 00:00:00.0
ASTM C1771-19 用电感耦合等离子体测定水解六氟化铀中硼、硅和锝的标准试验方法&x2014；固相萃取除铀后的质谱仪
简介：
信息：ICS：27.120.30 CCS： 发布：2019-11-01 实施：
BS ISO 14237-2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
简介：
信息：ICS：71.040.50 CCS：G04 发布：2010-08-31 实施：2010-08-31
GB/T 40236-2021 硼硅玻璃管道
简介：
信息：ICS：81.040.01 CCS：N64 发布：2021-05-21 实施：2021-12-01 00:00:00.0
T/CNIA 0012-2019 硅粉中硼、磷、铁、铝、钙、钛含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
简介：本标准规定了多晶硅生产用硅粉中硼、磷、铁、铝、钙、钛含量的测定方法。本标准适用于多晶硅生产用硅粉中硼、磷、铁、铝、钙、钛含量的测定
信息：ICS：77.040.01 CCS：C398 发布：2019-02-13 实施：2021-11-09
ISO 14237:2010 表面化学分析——二次离子质谱法——用均匀掺杂材料测定硅中硼原子浓度
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS： 发布：2010-07-09 实施：
GB/T 39138.3-2020 金镍铬铁硅硼合金化学分析方法 第3部分：铬、铁、硅、硼含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
简介：
信息：ICS：77.120.99 CCS：H15 发布：2020-10-11 实施：2021-09-01 00:00:00.0
DB15/T 1240-2017 硅粉中铁、铝、钙、钛、硼、磷含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
简介：
信息：ICS：77.040.30 CCS：H 17 发布：2017-09-10 实施：2017-12-10
ISO 14237-2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
简介：This International Standard specifies a secondary-ion mass spectrometric method for the determination of boron atomic concentration in single-crystalline silicon using uniformly doped materials calibrated by a certified reference material implanted with boron. This method is applicable to uniformly doped boron in the concentration range from 1 × 1016 atoms/cm3 to 1 × 1020 atoms/cm3.
信息：ICS：71.040.40;71.040.50 CCS：G04 发布：2010-07 实施：
GB/T 39138.1-2020 金镍铬铁硅硼合金化学分析方法 第1部分：金含量的测定 硫酸亚铁电位滴定法
简介：
信息：ICS：77.120.99 CCS：H15 发布：2020-10-11 实施：2021-09-01 00:00:00.0
ASTM C1842-16 通过傅立叶变换红外（FTIR）光谱分析六氟化铀中硼和硅的标准测试方法
简介：
信息：ICS：27.120.30 CCS： 发布：2016-06-01 实施：
JIS K0164-2010 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深压型用方法
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：A43 发布：2010-04-20 实施：
GB/T 39138.2-2020 金镍铬铁硅硼合金化学分析方法 第2部分：镍含量的测定 丁二酮肟重量法
简介：
信息：ICS：77.120.99 CCS：H15 发布：2020-10-11 实施：2021-09-01 00:00:00.0
GOST EN 1748-1-1-2016 硼硅玻璃. 技术要求
简介：
信息：ICS：81.040.30 CCS： 发布：2016 实施：2018-03-01
JIS G1327-3-2010 硼铁化学分析方法.第3部分:硅含量的测定方法
简介：This Standard specifies the method for determination of silicon content in ferroboron.
信息：ICS：77.100 CCS：H11 发布：2010-01-20 实施：
GB/T 4060-2018 硅多晶真空区熔基硼检验方法
简介：
信息：ICS：77.040 CCS：H17 发布：2018-09-17 实施：2019-06-01 00:00:00.0
GOST EN 1748-1-1-2016 硼硅玻璃. 技术要求
简介：
信息：ICS：81.040.30 CCS： 发布：2016 实施：2018-03-01
JIS G1327-3-2010 硼铁化学分析方法.第3部分:硅含量的测定方法
简介：This Standard specifies the method for determination of silicon content in ferroboron.
信息：ICS：77.100 CCS：H11 发布：2010-01-20 实施：
GB/T 34843-2017 3.3硼硅玻璃 性能
简介：
信息：ICS：81.040.01 CCS：Y22 发布：2017-11-01 实施：2018-05-01 00:00:00.0
XB/T 617.3-2014 钕铁硼合金化学分析方法 第3部分:硼、铝、铜、钴、镁、硅、钙、钒、铬、锰、镍、锌和镓量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
简介：XB/T 617的本部分规定了钕铁硼合金中硼、铝、铜、钴、镁、硅、钙、钒、铬、锰、镍、锌和镓量的测定方法。本部分适用于钕铁硼合金中硼、铝、铜、钴、镁、硅、钙、钒、铬、锰、镍、锌和镓量的测定,测定范围见表1。
信息：ICS：77.120.99 CCS：H14 发布：2014-10-14 实施：2015-04-01
YS/T 226.13-2009 硒化学分析方法.第13部分:银、铝、砷、硼、汞、铋、铜、镉、铁、镓、铟、镁、镍、铅、硅、锑、锡、碲、钛、锌量的测定.电感耦合等离子体质谱法
简介：YS/T 226的本部分规定了硒中银、铝、砷、硼、汞、铋、铜、镉、铁、镓、铟、镁、镍、铅、硅、锑、锡、碲、钛、锌量的测定方法。本部分适用于硒中银、铝、砷、硼、汞、铋、铜、镉、铁、镓、铟、镁、镍、铅、硅、锑、锡、碲、钛、锌量的测定。
信息：ICS：77.120.99 CCS：H17 发布：2009-12-04 实施：2010-06-01
GB/T 32281-2015 太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：2015-12-10 实施：2017-01-01
YS/T 984-2014 硅粉化学分析方法 硼、磷含量的测定
简介：本标准规定了硅粉中硼含量、磷含量的测定方法。本标准适用于硅粉中硼含量、磷含量的测定。测定范围为硼0.000 10%~0.010 00%,磷0.000 50%~0.015 00%。
信息：ICS：77.040.30 CCS：H17 发布：2014-10-14 实施：2015-04-01
XB/T 601.5-2008 六硼化镧化学分析方法.酸溶硅量的测定.硅钼蓝分光光度法
简介：本部分规定了六硼化镧酸溶硅含量的测定方法。本部分适用于六硼化镧酸溶硅含量的测定。测定范围：0.0020%～0.10%。
信息：ICS： CCS：H14 发布：2008-02-01 实施：2008-07-01
GB/T 29056-2012 硅外延用三氯氢硅化学分析方法.硼、铝、磷、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、钼、砷和锑量的测定 电感耦合等离子体质谱法
简介：使用本标准的人员应有正规实验室工作的实践经验。本标准并未指出所有可能的安全问题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的条件。本标准规定了用电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）测定硅外延用三氯氢硅（SiHCl）中硼、铝、磷、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、钼、砷、锑等痕量元素含量的方法。本标准适用于硅外延用三氯氢硅（SiHCl）中硼、铝、磷、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、钼、砷、锑等含量的测定。各元素测定范围见表1.表1（略）
信息：ICS：31.030 CCS：H17;L90 发布：2012-12-31 实施：2013-10-01
BS ISO 17560-2014 表面化学分析.再生离子质量光谱测定.硅中硼的深仿形分析法
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2014-09-30 实施：2014-09-30
NF X21-051-2006 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深仿形方法
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2006-04-01 实施：2006-04-20
GB/T 24580-2009 重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
简介：1.1本标准规定了重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱测试方法。本标准适用于二次离子质谱法(SIMS)对重掺n型硅衬底单晶体材料中痕量硼沾污(总量)的测试。1.2本标准适用于对锑、砷、磷的掺杂浓度
信息：ICS：29.045 CCS：H80 发布：2009-10-30 实施：2010-06-01
ISO 17560-2014 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深仿形方法
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2014-09-01 实施：
YBB 0029-1-2005 高硼硅玻璃管制注射剂瓶
简介：本标准适用于盛装直接分装的注射用无菌粉末或无菌液体的高硼硅玻璃管制注射剂瓶。
信息：ICS： CCS：A82;C10 发布：2006-02-21 实施：2006-06-01
GB/T 4060-2007 硅多晶真空区熔基硼检验方法
简介：本标准适用于多晶硅沉积在硅芯上生长的多晶硅棒基硼的检验。本标准检测杂质浓度有效范围：0．002×10～100×10。
信息：ICS：77.040.01 CCS：H17 发布：2007-09-11 实施：2008-02-01
ASTM C1771-13 通过电感耦合等离子体测定水合六氟化铀中的硼 硅和锝的标准测试方法
简介：
信息：ICS：27.120.30 CCS： 发布：2013-01-01 实施：
YBB 0029-2-2005 中性硼硅玻璃管制注射剂瓶
简介：本标准适用于盛装直接分装的注射用无菌粉末或无菌液体的中性硼硅玻璃管制注射剂瓶。
信息：ICS： CCS：A82;C10 发布：2006-02-21 实施：2006-06-01
GB/T 20176-2006 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
简介：本标准详细说明了用标定的均匀掺杂物质（用注入硼的参考物质校准）确定单晶硅中硼的原子浓度的二次离子质谱方法。它适用于均匀掺杂硼浓度范围从1×10atoms/cm～1×10atoms/cm。
信息：ICS：71.040.40 CCS：N33 发布：2006-03-27 实施：2006-11-01
ASTM C1771-2013 固相萃取除铀后用电感耦合等离子体质谱法测定水解六氟化铀中硼、硅和锝的标准试验方法
简介：5.1x00a0;This method is capable of measuring the concentration of boron, silicon and technetium in UF6. Limits for these contaminants are set in Specifications C787 and C996. 1.1x00a0;This test method covers the determination of boron, silicon and technetium in hydrolyzed uranium hexafluoride (UF6) by Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (ICP-MS) after separation of the uranium by solid phase extraction. 1.2x00a0;The values stated in SI units are to be regarded as standard. No other units of measurement are included in this standard. 1.3x00a0;This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. Some specific hazards statements are given in Section 7 on Hazards.
信息：ICS：27.120.30 (Fissile materials and nuclear fuel tech CCS：F46 发布：2013 实施：
YBB 0002-2-2005 中性硼硅玻璃输液瓶
简介：本标准适用于盛装大体积注射液的中性硼硅玻璃输液瓶。
信息：ICS： CCS：A82;C10 发布：2006-02-21 实施：2006-06-01
GB/T 1549-1994 钠钙硅铝硼玻璃化学分析方法
简介：本标准规定了钠钙硅铝硼玻璃的化学分析方法。 本标准适用于钠钙硅铝硼玻璃如中碱玻璃、无碱玻璃及类似组成玻璃的化学分析。
信息：ICS：29.240.30 CCS：Q30 发布：1994-12-22 实施：1995-08-01
DB53/T 421-2012 工业硅中硼的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
简介：本标准规定了工业硅中硼的电感耦合等离子体发射光谱仪测定方法。本标准适用于工业硅中硼的测定，检测范围0.000 4%～0.017%。
信息：ICS：71.040.50 CCS：G 04 发布：2012-09-20 实施：2012-12-01
YBB 0006-2-2005 中性硼硅玻璃模制注射剂瓶
简介：本标准适用于盛装直接分装的注射用无菌粉末或无菌液体的中性硼硅玻璃模制注射剂瓶。
信息：ICS： CCS：A82;C10 发布：2006-02-21 实施：2006-06-01
GB/T 3653.3-1988 硼铁化学分析方法 高氯酸脱水重量法测定硅量
简介：本方法规定了高氯酸脱水重量法测定硅量。 本标准适用于硼铁中硅量的测定，测定范围050％～16.00％。
信息：ICS：77.100 CCS：H11 发布：1988-09-20 实施：1990-01-01
HG/T 4284-2011 压力管道硼硅玻璃视镜
简介：
信息：ICS： CCS：G91 发布：2012-07-01 实施：2012-07-01
YBB 0032-2-2005 中性硼硅玻璃安瓿
简介：本标准适用于色环和点刻痕易折中性硼硅玻璃安瓿。
信息：ICS： CCS：A82;C10 发布：2006-02-21 实施：2006-06-01
GB/T 4060-1983 硅多晶真空区熔基硼检验方法
简介：本标准适用于三氯氢硅及四氯化硅氢还原在细硅芯上沉积硅多晶所生长出来的硅多晶棒。
信息：ICS：77.040.30 CCS：H21 发布：1983-12-20 实施：1984-12-01
KS D 2075-3-2012 铁硼的分析方法.第1部分:硅含量的测量方法
简介：이 표준은 페로붕소의 규소 정량 방법에 대하여 규정한다.
信息：ICS：71.040.40;77.120.00 CCS：H11 发布：2012-03-09 实施：2012-03-09
YBB 0001-2-2005 药用中性硼硅玻璃管
简介：本标准适用于制造硼硅玻璃安瓿、管制注射剂瓶、管制口服液瓶等药用容器的中性硼硅玻璃管。
信息：ICS： CCS：A82;C10 发布：2006-02-21 实施：2006-06-01
GB 3653.3-1988 硼铁化学分析方法 高氯酸脱水重量法测定硅量
简介：
信息：ICS： CCS：H11 发布：1983-05-02 实施：1990-01-01
KS D 2075-3-2012(2017) 硼铁化学分析方法第3部分:硅量的测定方法
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：2012-03-09 实施：
YBB 0001-1-2005 药用高硼硅玻璃管
简介：本标准适用于制造高硼硅玻璃安瓿、管制注射剂瓶、管制口服液瓶等药用容器的高硼硅玻璃管。
信息：ICS： CCS：A82;C10 发布：2006-02-21 实施：2006-06-01
GB 1549-1979 钠钙硅铝硼玻璃化学分析方法
简介：
信息：ICS： CCS：Q30 发布：1979-05-26 实施：
KS D 2075-3-2012 铁硼的分析方法.第1部分:硅含量的测量方法
简介：이 표준은 페로붕소의 규소 정량 방법에 대하여 규정한다.
信息：ICS：71.040.40;77.120.00 CCS：H11 发布：2012-03-09 实施：2012-03-09
YBB 0012-2004 笔式注射器用硼硅玻璃珠
简介：
信息：ICS：11.040.20 CCS：C31 发布：2005-01-05 实施：2005-04-01
KS D 2075-3-2022 硼铁化学分析方法.第3部分:硅含量的测定方法
简介：
信息：ICS： CCS： 发布：2022-10-31 实施：
JIS G1314-6-2011 硅锰化学分析法.第6部分:硼含量的测定
简介：This Standard specifies the determination method of boron content in silicomanganese.
信息：ICS：77.100 CCS：H11 发布：2011-10-20 实施：
YBB 0001-2004 低硼硅玻璃输液瓶
简介：
信息：ICS： CCS：C92 发布：2005-01-05 实施：2005-04-01
QB/T 5543-2021 硼硅玻璃窑炉余热回收再利用技术要求
简介：
信息：ICS：N64 CCS：81.040.01 发布：2021-03-05 实施：2021-07-01
NF X21-070-2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度.
简介：
信息：ICS：71.040.50 CCS：G04 发布：2010-09-01 实施：2010-09-25
YBB 0002-2004 硼硅玻璃管制口服液体瓶
简介：
信息：ICS： CCS：C92 发布：2005-01-05 实施：2005-04-01
YB/T 4908.2-2021 钒铝合金 硅、铁、磷、硼、铬、镍、钨、铜、锰、钼含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
简介：
信息：ICS：77.100 CCS：H11 发布：2021-03-05 实施：2021-07-01
BS ISO 14237-2010 表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
简介：
信息：ICS：71.040.50 CCS：G04 发布：2010-08-31 实施：2010-08-31
YBB 0005-2004 硼硅玻璃模制药瓶
简介：
信息：ICS： CCS：C92 发布：2005-01-05 实施：2005-04-01
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