近场显微检测标准

发布时间:2023-03-14 06:31:48 阅读量: 来源:中析研究所

近场显微相关标准参考信息

GB/T 33523.603-2022 产品几何技术规范(GPS) 表面结构 区域法 第603部分:非接触(相移干涉显微)式仪器的标称特性
简介:
信息:ICS:17.040.20 CCS:J04 发布:2022-12-30 实施:2023-04-01

GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
简介:
信息:ICS:71.040.40 CCS:G04 发布:2017-07-12 实施:2018-06-01 00:00:00.0

GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
简介:本标准规定了用透射电子显微镜(TEM)对薄晶体试样的微米和亚微米尺寸区域进行选区电子衍射分析的方法。被测试样可以从各种金属或非金属材料的薄切片获得,也可以采用细微的粉末或萃取复型试样。应用本方法可分析的最小试样选区直径取决于显微镜物镜的球差系数,对于现代TEM,试样的最小选区直径一般可达到0.5 μm。当被分析试样区的直径小于0.5 μm时仍然可以参照本标准的分析方法,但是由于球差的影响,衍射谱上的部分信息有可能来源于由选区光阑限定的区域之外,在这种情况下,如条件允许,最好采用微(纳)衍射或者会聚束电子衍射方法。选区电子衍射方法的成功应用取决于对所获得的衍射谱指数标定正确与否,而不论试样的哪个晶带轴平行于入射电子束,因而,这样的分析往往需要借助试样的倾转和旋转装置。本标准适用于从晶体试样上获取SAED谱、标定衍射谱的指数以及校准电镜的衍射常数。
信息:ICS:71.040.50 CCS:N32 发布:2013-07-19 实施:2014-03-01

GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法
简介:
信息:ICS:81.040.01 CCS:N05 发布:2022-10-14 实施:2023-05-01

GB/T 33838-2017 微束分析 扫描电子显微术 图像锐度评估方法
简介:
信息:ICS:71.040.40 CCS:G04 发布:2017-05-31 实施:2018-04-01 00:00:00.0

GB/T 3246.1-2012 变形铝及铝合金制品组织检验方法 第1部分:显微组织检验方法
简介:GB/T 3246的本部分规定了铝及铝合金铸锭(或锭坯)、变形铝及铝合金板、带、箔、管、棒、型、线、锻件(以下简称加工制品)显微组织检验用的试验溶液及试样制备、浸蚀、阳极化制膜、组织检验、晶粒尺寸的测定和试验报告等。本部分适用于铝及铝合金铸锭(或锭坯)及加工制品的显微组织检验。
信息:ICS:77.040.99 CCS:H24 发布:2012-12-31 实施:2013-10-01

GB/T 3488.4-2022 硬质合金 显微组织的金相测定 第4部分:孔隙度、非化合碳缺陷和脱碳相的金相测定
简介:
信息:ICS:77.160 CCS:H16 发布:2022-10-12 实施:2022-10-12

GB/T 33838-2017 微束分析 扫描电子显微术 图像锐度评估方法
简介:
信息:ICS:/ CCS:/ 发布:2017-05-31 实施:0000-00-00

GB/T 28634-2012 微束分析.电子探针显微分析.块状试样波谱法定量点分析
简介:本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜(SEM)的波谱仪(WDS),通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。内容包括:——定量分析原理;——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围;——仪器的一般要求;——有关试样制备、实验条件的选择、分析测量等的基本过程及报告。本标准适用于电子束垂直入射,要求定量分析的试块试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。
信息:ICS:71.040.99 CCS:N53 发布:2012-07-31 实施:2013-02-01

GB/T 4296-2022 变形镁合金显微组织检验方法
简介:
信息:ICS:77.120.20 CCS:H61 发布:2022-03-09 实施:2022-10-01 00:00:00.0

GB/T 33834-2017 微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法
简介:
信息:ICS:71.040.40 CCS:G04 发布:2017-05-31 实施:2018-04-01 00:00:00.0

GB/T 27668.1-2011 显微术术语.第1部分: 光学显微术
简介:本标准规定了用于光学显微术领域的术语和定义。
信息:ICS:37.020 CCS:N30 发布:2011-12-30 实施:2012-05-01

GB/T 21636-2021 微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语
简介:
信息:ICS:01.040.71;71.040.99 CCS:G04 发布:2021-12-31 实施:2022-07-01 00:00:00.0

GB/T 33714-2017 纳米技术 纳米颗粒尺寸测量 原子力显微术
简介:
信息:ICS:19.020 CCS:N04 发布:2017-05-12 实施:2017-12-01 00:00:00.0

GB/T 27552-2011 金属材料焊缝破坏性试验 焊接接头显微硬度试验
简介:本标准规定了硬度梯度大的金属材料焊接接头横截面显微硬度试验。依据ISO 6507-1-2005进行维氏硬度试验,通常使用的试验力范围为0.98N到小于49.03N(HV 0.1到小于HV 5)。 注 :硬度试验应确保测出焊缝金属和两侧母材(两侧母材为不同金属材料)的最高硬度和最低硬度。 本标准规定的焊缝硬度试验使用的试验力不包括ISO 9015-1规定的大于等于49.03N的试验力。 本标准不适用于窄焊缝试样的硬度试验,例如激光焊和电子束焊焊缝。 本标准适用于金属材料焊接接头横截面显微硬度试验。
信息:ICS:25.160.40 CCS:J33 发布:2011-11-21 实施:2012-06-01

GB/T 27552-2021 金属材料焊缝破坏性试验 焊接接头显微硬度试验
简介:
信息:ICS:25.160.40 CCS:J33 发布:2021-10-11 实施:2022-05-01 00:00:00.0

GB/T 33252-2016 纳米技术 激光共聚焦显微拉曼光谱仪性能测试
简介:
信息:ICSCCS:N35 发布:2016-12-13 实施:2017-07-01

GB/T 26600-2011 显微镜.光学显微术用浸液
简介:本标准描述了用于显微术的浸液的特性,按其应用范围对浸液分类,并规定了每种型式的要求和试验方法。本标准规定了浸液的标识方法以及容器标签上的信息和技术数据单应提供的信息。
信息:ICS:37.020 CCS:N32 发布:2011-06-16 实施:2011-11-01

GB/T 40300-2021 微束分析 分析电子显微学 术语
简介:
信息:ICS:71.040.40 CCS:G04 发布:2021-08-20 实施:2022-03-01 00:00:00.0

GB/T 32869-2016 纳米技术 单壁碳纳米管的扫描电子显微术和能量色散X射线谱表征方法
简介:
信息:ICSCCS发布:2016-08-29 实施:2017-03-01

GB/T 14999.7-2010 高温合金铸件 晶粒度、一次枝晶间距和显微疏松测定方法
简介:本标准规定了高温含金铸件等轴晶宏观和显微平均晶粒度、柱状晶晶粒度、柱状晶和单晶一次枝晶平均间距、显微疏松的测定方法及结果表示方法。本标准适用于普通精密铸造铸件、定向凝固柱晶铸件中晶粒度的测定;定向凝固柱晶和单晶铸件中一次枝晶间距的测定;普通精密铸造铸件、定向凝固柱晶和单晶铸件中显微疏松的测定。本标准仅作为推荐性测定方法,不对高温合金铸件验收测试的合格级别范围进行规定。
信息:ICS:77.140.99 CCS:H57 发布:2010-12-23 实施:2011-09-01

GB/T 4930-2021 微束分析 电子探针显微分析 标准样品技术条件导则
简介:
信息:ICS:19.020 CCS:G04 发布:2021-05-21 实施:2021-12-01 00:00:00.0

GB/T 9097-2016 烧结金属材料(不包括硬质合金) 表观硬度和显微硬度的测定
简介:
信息:ICSCCS发布:2016-02-24 实施:2016-06-01

GB/T 23414-2009 微束分析.扫描电子显微术.术语
简介:本标准定义了扫描电子显微术(SEM)实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语,也包括已经在ISO 23833中定义的术语。 本标准适用于所有有关SEM实践的标准化文件。另外,本标准的某些术语定义,也适用于相关领域的文件〔例如:电子探针显微分析(EPMA)、分析电子显微术(AEM)、能谱法(EDX)等〕。
信息:ICSCCS:N33 发布:2009-04-01 实施:2009-12-01

GB/T 40128-2021 表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法
简介:
信息:ICS:71.040.40 CCS:G04 发布:2021-05-21 实施:2021-12-01 00:00:00.0

GB/T 32055-2015 微束分析 电子探针显微分析 波谱法元素面分析
简介:本标准规定了使用电子探针波谱法进行元素面分析的方法。本标准规范了移动电子束对试样扫描的面分析(电子束面分析)和移动试样台的面分析(大面积面分析)两种模式的选择,给出了五种数据处理的方式:原始X射线强度法、K值法、校正曲线法、对比法和基体校正法。
信息:ICS:71.040.50 CCS:G04 发布:2015-10-09 实施:2016-09-01

GB/T 15247-2008 微束分析.电子探针显微分析.测定钢中碳含量的校正曲线法
简介:本标准规定了用电子探针测定碳钢和低合金钢(其他合金元素质量分数小于2%)中碳含量的校正曲线法。本标准包含试样制备、X-射线检测、校正曲线建立以及碳含量检测不确定度的评估。本标准适用于测定碳的质量分类小于1%的钢的碳含量,当含碳量高于1%时检测准确度会受到很大的影响,不适用于本标准。本标准适用于垂直入射方式和波谱仪,不适用能谱仪。
信息:ICSCCS:N33 发布:2008-08-20 实施:2009-04-01

GB/T 9790-2021 金属材料 金属及其他无机覆盖层的维氏和努氏显微硬度试验
简介:
信息:ICS:77.040.10 CCS:H22 发布:2021-04-30 实施:2021-11-01 00:00:00.0

GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
简介:本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的性能参数。本标准仅适用于基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)联用的EDS性能参数的最低要求以及核查方法。至于实际分析过程,在ISO 22309和ASTM E1508中已有规范,不在本标准范围之内。
信息:ICS:71.040.99 CCS:G04 发布:2015-10-09 实施:2016-09-01

GB/T 19267.8-2008 刑事技术微量物证的理化检验.第8部分:显微分光光度法
简介:GB/T 19267的本部分规定了显微分光光度的检验方法。本部分适用于刑事技术领域中的微量物证的理化检验,其他领域亦可参照使用。
信息:ICS:13.310 CCS:A92 发布:2008-08-14 实施:2009-03-01

GB/T 3488.3-2021 硬质合金 显微组织的金相测定 第3部分:Ti(C,N)和WC立方碳化物基硬质合金显微组织的金相测定
简介:
信息:ICS:77.160 CCS:H16 发布:2021-03-09 实施:2021-10-01 00:00:00.0

GB/T 13298-2015 金属显微组织检验方法
简介:本标准规定了金属显微组织检验的试样准备、试样研磨、试样抛光、显微组织显示、显微组织检验、现场金相及试验记录。本标准适用于金相显微镜检查金属组织的操作方法。
信息:ICS:77.040.99 CCS:H24 发布:2015-09-11 实施:2016-06-01

GB/T 15590-2008 显微煤岩类型测定方法
简介:本标准规定了在粉煤光片或块煤光片上测定显微煤岩类型体积分数的方法。本标准适用于烟煤和无烟煤的显微煤岩类型测定。
信息:ICS:73.040 CCS:D26 发布:2008-08-07 实施:2009-03-01

GB/T 38396-2019 焦化沥青类产品 中间相含量的测定 光反射显微分析方法
简介:
信息:ICS:71.080 CCS:G18 发布:2019-12-31 实施:2020-07-01 00:00:00.0

GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法
简介:GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
信息:ICS:31-030 CCS:L90 发布:2015-05-15 实施:2016-01-01

GB/T 22061-2008 显微镜.偏光显微术的参考系统
简介:本标准规定了显微镜及其附件上的全部转动和移动的调整机构的参考系统,以求测量过程的一致。本标准的重点在于偏光参数和测试附件,如显微镜旋转载物台、偏光元件及补偿器。
信息:ICS:37.020 CCS:N32 发布:2008-06-20 实施:2009-01-01

GB/T 37787-2019 金属材料 显微疏松的测定 荧光法
简介:
信息:ICS:77.040.99 CCS:H24 发布:2019-08-30 实施:2020-07-01 00:00:00.0

GB/T 3488.1-2014 硬质合金 显微组织的金相测定 第1部分:金相照片和描述
简介:本部分规定了硬质合金显微组织的金相测定方法。
信息:ICS:77.160 CCS:H16 发布:2014-12-05 实施:2015-08-01

GB/T 21636-2008 微束分析.电子探针显微分析(EPMA)术语
简介:本标准定义了电子探针显微分析(EPMA)实践中使用的术语,包括一般概念的术语和按技术等级分类的具体概念的术语。本标准适用于所有有关电子探针显微分析(EPMA)践的标准化文件,部分适用于相关领域[例如:扫描电子显微镜(SEM),分析电子显微镜(AEM),X射线能谱仪等]的标准化文件,用于定义共用的术语。
信息:ICSCCS:N04;G04 发布:2008-04-11 实施:2008-10-01

GB/T 36969-2018 纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法
简介:
信息:ICS:17.040.20 CCS:J04 发布:2018-12-28 实施:2018-12-28 00:00:00.0

GB/T 31226-2014 扫描隧道显微术测定气体配送系统部件表面粗糙度的方法
简介:本标准规定了一种使用扫描隧道显微镜(STM)来分析气体配送系统部件表面粗糙度的方法。本标准适用于测定Ra小于0.25 μm的不锈钢表面粗糙度的表征。本标准不适用于不能产生隧道效应的厚氧化层钢铁。
信息:ICS:17.040.20 CCS:J04 发布:2014-09-30 实施:2015-04-15

GB/T 21638-2008 钢铁材料缺陷电子束显微分析方法通则
简介:本标准规定了钢铁材料缺陷电子束显微分析的术语、分析方法和程序、分析报告内容等。本标准适用于钢铁材料内部及表面缺陷的电子束显微分析。
信息:ICS:71.040.99 CCS:N53 发布:2008-04-11 实施:2008-10-01

GB/T 3488.2-2018 硬质合金 显微组织的金相测定 第2部分:WC晶粒尺寸的测量
简介:
信息:ICS:77.160 CCS:H16 发布:2018-07-13 实施:2019-04-01 00:00:00.0

GB/T 30705-2014 微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则
简介:本标准规定了进行电子探针分析时的入射电子束、波谱仪和试样的实验参数测定的一般原则,并规定了束流、束流密度、死时间、波长分辨率、背底、分析面积、分析深度和分析体积的测定过程。本标准适用于垂直入射电子束对抛光试样的分析,对于其他实验条件,这些实验参数只能作为参考。本标准不适用于能谱法。
信息:ICS:71.040.50 CCS:G04 发布:2014-06-09 实施:2014-12-01

GB/T 20725-2006 波谱法定性点分析电子探针显微分析导则
简介:本标准是用电子探针或者扫描电镜中的波谱仪获得试样特定体积内(μm尺度)的X射线谱,进行元素鉴别和确认特定元素存在的一种标准方法。
信息:ICS:71.040.99 CCS:N53 发布:2006-12-25 实施:2007-08-01

GB/T 3488.2-2018 硬质合金 显微组织的金相测定 第2部分:WC晶粒尺寸的测量
简介:GB/T 3488的本部分提供了通过使用光学或电子显微镜的金相检测技术来测量硬质合金晶粒尺寸的方法指南。本部分适用于以WC为主硬质相的WC/Co硬质合金烧结体(也称为硬质合金或金属陶瓷),也适用于通过截线法测量晶粒尺寸及其分布。本部分主要包含以下四个方面:——显微镜的校准,以确保测量精度;——线性分析法,以获得足够多具有统计意义的数据;——分析方法,以计算具有代表性的平均值;——报告,以符合现代质量报告要求。本部分通过一个测量案例分析来阐述这项推荐性技术(参见附录A)。本部分不适用于以下几个方面:——尺寸分布的测定;——形状的测定,在实现形状测定之前仍需更深入的研究。矫顽磁力有时可用于测量晶粒尺寸,但本方法仅涉及金相测定法。本方法适用于硬质合金,并不适用于粉末。然而,本方法原则上也可用于测定可进行镶样、制样粉末的平均尺寸。
信息:ICS:77.160 CCS:H16 发布:2018-07-13 实施:2019-04-01

GB/T 30713-2014 砚石 显微鉴定方法
简介:本标准规定了砚石的偏光显微镜鉴定方法。本标准适用于砚石的显微鉴定。
信息:ICS:39.060 CCS:D59 发布:2014-06-09 实施:2014-10-01

GB/T 10561-2005 钢中非金属夹杂物含量的测定 标准评级图显微检验法
简介:本标准规定了用标准图谱评定压缩比大于或等于3的轧制或锻制钢材中的非金属夹杂物的显微评定方法。这种方法广泛用于对给定用途钢适应性的评估。但是,由于受试验人员的影响,即使采用大量试样也很难再现试验结果,因此,使用本方法时应十分慎重。 本标准还提供了测定非金属夹杂物的图像分析法(见附录D)。
信息:ICS:77.040.30 CCS:H24 发布:2005-05-13 实施:2005-10-01

GB/T 35098-2018 微束分析 透射电子显微术 植物病毒形态学的透射电子显微镜鉴定方法
简介:
信息:ICS:71.040.40 CCS:G04 发布:2018-05-14 实施:2019-04-01 00:00:00.0

GB/T 30543-2014 纳米技术 单壁碳纳米管的透射电子显微术表征方法
简介:本标准规定了单壁碳纳米管的透射电子显微术表征形貌的方法,及识别单壁碳纳米管样品中其他材料元素组成的能谱法。本标准适用于检测单壁碳纳米管的基本结构,包括形貌、缺陷、直径分布、管束大小和取向、结晶情况,以及元素组分和手性分析等。
信息:ICS:17.180.01 CCS:N33 发布:2014-05-06 实施:2014-11-01

GB/T 4296-2004 变形镁合金显微组织检验方法
简介:本标准规定了变形镁合金显微组织检验用试样的制备、浸蚀和组织检验、晶粒度测定方法等。 本标准适用于变形镁合金材料、制品显微组织的检验。
信息:ICS:77.120.20 CCS:H61 发布:2004-03-24 实施:2004-09-01

GB/T 35098-2018 微束分析 透射电子显微术 植物病毒形态学的透射电子显微镜鉴定方法
简介:本标准规定了使用透射电子显微镜对植物病毒进行形态学观察和鉴定的步骤、质量要求及鉴定报告的发布。本标准适用于各种类型透射电镜对植物病毒形态的观察和鉴定。
信息:ICS:71.040.40 CCS:G04 发布:2018-05-14 实施:2019-04-01

GB/T 15589-2013 显微煤岩类型分类
简介:本标准规定了显微煤岩类型的分类原则,显微煤岩类型、显微矿化类型和显微矿质类型的分类。本标准适用于烟煤和低变质程度的无烟煤。
信息:ICS:73.040 CCS:D26 发布:2013-12-17 实施:2014-05-01

GB/T 19267.8-2003 刑事技术微量物证的理化检验 第8部分;显微分光光度法
简介:本标准规定了显微分光光度的检验方法。 本部分适用于刑事技术领域中微量物证的理化检验,其他领域亦可参照使用。
信息:ICS:13.310 CCS:A92 发布:2003-08-19 实施:2004-01-01

GB/T 35927-2018 傅里叶变换显微红外光谱法识别聚合物层或夹杂物的标准规程
简介:
信息:ICS:37.040.20 CCS:G80 发布:2018-02-06 实施:2018-09-01 00:00:00.0

GB/T 15588-2013 烟煤显微组分分类
简介:本标准规定了烟煤显微组分的分类、名称和代号,并给出了烟煤显微组分的特征描述。本标准适用于烟煤的资源评价、加工利用和成因研究等方面的生产、科研及教学工作。煤化程度与烟煤接近的褐煤和无烟煤可参照使用。
信息:ICS:73.040 CCS:D20 发布:2013-12-17 实施:2014-05-01

GB/T 15588-2001 烟煤显微组分分类
简介:本标准规定了烟煤显微组分的分类、名称和代号,适用于烟煤的资源评价、加工利用和成因研究等方面的生产、科研及教学工作。煤化程度与烟煤接近的褐煤和无烟煤可参照使用。
信息:ICS:73.040 CCS:D20 发布:2001-03-19 实施:2001-10-01

GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
简介:
信息:ICS:71.040.40 CCS:G04 发布:2017-07-12 实施:2018-06-01 00:00:00.0

GB/T 8899-2013 煤的显微组分组和矿物测定方法
简介:本标准规定了在反射偏光显微镜下测定煤的显微组分组(或显微组分)和矿物的体积分数的方法。本标准适用于褐煤、烟煤和无烟煤制成的粉煤光片。
信息:ICS:73.040 CCS:D26 发布:2013-12-17 实施:2014-05-01

GB/T 3246.1-2000 变形铝及铝合金制品显微组织检验方法
简介:本标准规定了变形铝及铝合金材料、制品显微组织检验的试样制备、浸蚀、组织检验及晶粒度测定等。 本标准适用于变形铝及铝合金材料、制品显微组织检验。
信息:ICS:77.040.30 CCS:H23 发布:2000-06-09 实施:2000-11-01

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精密检测仪器

精密光谱分析仪

用于材料成分分析和元素检测,精度可达ppm级别

色谱分析仪器

高效液相色谱仪

用于食品安全检测和化学成分分析,分离效率高

材料测试设备

万能材料试验机

用于材料力学性能测试,可进行拉伸、压缩等多种测试

热分析仪器

差示扫描量热仪

用于材料热性能分析,测量相变温度和热焓变化

显微镜设备

扫描电子显微镜

用于材料微观结构观察,分辨率可达纳米级别

环境检测设备

气相色谱质谱联用仪

用于复杂有机化合物的分离和鉴定,灵敏度高

我们的优势

选择中科光析,选择专业与信赖

权威资质

具备CMA、CNAS等多项国家级资质认证,检测报告具有法律效力

先进设备

引进国际先进检测设备,确保检测数据的准确性和可靠性

专业团队

拥有经验丰富的检测工程师和技术专家团队

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7×24小时服务热线,快速响应客户需求,及时出具检测报告

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