(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
扫描显微镜相关标准参考信息
GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2018-03-15 00:00:00.0 实施：2019-02-01 00:00:00.0
BS ISO 11775-2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2015-10-31 实施：2015-10-31
ISO 28600-2011 表面化学分析.扫描探针显微镜检查用数据传送格式
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2011-07 实施：
GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2018-03-15 00:00:00.0 实施：2019-02-01 00:00:00.0
ISO 11775:2015 表面化学分析 - 扫描探针显微镜 - 悬臂弹簧常数的测定
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS： 发布：2015-10-15 实施：
ISO 28600:2011 表面化学分析——扫描探针显微镜的数据传输格式
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS： 发布：2011-06-20 实施：
GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传输格式
简介：本标准规定了通过并行接口或串行接口经由线缆、局域网、广域网络或其他通信线路将扫描探针显微镜(SPM)数据从计算机传输到计算机的格式。传输的数据采用出现在普通计算机显示器或打印机上的那些字符进行编码。该格式是为SPM的数据设计的，例如扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)和使用在样品表面上扫描的尖锐探针的相关表面分析方法。本格式涵盖了由单通道成像、多通道成像和单点谱得到的数据，在未来版本中可扩展至二维谱成像。
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2018-03-15 实施：2019-02-01
ISO 11775-2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS： 发布：2015-10 实施：
NF X21-069-2-2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜用术语.
简介：
信息：ICS：01.040.71;71.040.40 CCS：N04 发布：2010-09-01 实施：2010-09-04
GB/T 29190-2012 扫描探针显微镜漂移速率测量方法
简介：本标准规定了SPM漂移速率的术语和定义、缩略语、测量步骤、性能参数规格，及基于SPM扫描图像的漂移速率测量基波方法。本标准适用于0.01nm/s到10nm/s的漂移速率测量。本标准中的漂移测量不适用于图像校正。
信息：ICS：17.180.99 CCS：N33;A60 发布：2012-12-31 实施：2013-06-01
ISO 13083:2015 表面化学分析.扫描探针显微镜.用于2D掺杂成像和其他目的的电扫描探针显微镜（ESPM）的空间分辨率定义和校准标准 如SSRM和SCM
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS： 发布：2015-08-20 实施：
BS ISO 18115-2-2010 表面化学分析.词汇表.扫描-探针显微镜检查中应用的术语
简介：
信息：ICS：01.040.71;71.040.40 CCS：G04 发布：2010-08-31 实施：2010-08-31
GB/Z 26083-2010 八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法（扫描隧道显微镜）
简介：本指导性技术文件规定了利用扫描隧道显微镜检测八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的原理、术语及定义、探针和基底制备、样品制备、测试条件、测试步骤、图像分析及结果表示等。本指导性技术文件适用于在常温(10℃～35℃)和1个大气压环境条件下，用扫描隧道显微镜测试八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构。
信息：ICS：17.040.20 CCS：G04 发布：2011-01-10 实施：2011-10-01
GOST R ISO 27911-2015 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS： 发布：2015 实施：2016-01-01
ISO 18115-2:2010 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
简介：
信息：ICS：01.040.71 CCS： 发布：2010-07-08 实施：
ISO 18115-2-2021 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
简介：
信息：ICS：01.040.71 CCS： 发布：2021-12-21 实施：
ISO 11952:2014 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS： 发布：2014-05-12 实施：
ISO 18115-2-2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜检查中使用的术语
简介：ISO 18115 defines terms for surface chemical analysis. Part 1 covers general terms and those used in spectroscopy while this part covers terms used in scanning-probe microscopy.
信息：ICS：01.040.71;71.040.40 CCS：G04 发布：2010-07 实施：
SJ/T 11759-2020 光伏电池电极栅线高宽比的测量 激光扫描共聚焦显微镜法
简介：
信息：ICS：27.16 CCS：F 12 发布：2020-12-09 实施：2021-04-01
ISO 11952-2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：A43 发布：2014-05 实施：
GOST R 8.700-2010 确保测量一致性的国家体系.利用原子力扫描探针显微镜进行测量的表面粗糙度效果测高法
简介：
信息：ICS：17.040.01 CCS： 发布：2010 实施：2010-11-01
ASTM E2382-04(2020) 扫描隧道显微镜和原子力显微镜中的扫描仪和尖端相关人工标准指南
简介：
信息：ICS：17.040.20 CCS： 发布：2020-12-01 实施：
BS ISO 18115-2-2013 表面化学分析. 词汇. 扫描探针显微镜用术语
简介：
信息：ICS：01.040.71;71.040.40 CCS：A43 发布：2013-11-30 实施：2013-11-30
GOST 8.593-2009 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.鉴定方法
简介：
信息：ICS：17.040.01 CCS： 发布：2009 实施：2010-11-01
JY/T 0582-2020 扫描探针显微镜分析方法通则
简介：
信息：ICS：03.180 CCS：Y51 发布：2020-09-29 实施：2020-12-01
ISO 18115-2-2013 表面化学分析.词汇表.第2部分:扫描-探针显微镜检查中应用的术语
简介：This International Standard defines terms for surface chemical analysis. ISO 18115-1 covers general terms and those used in spectroscopy while this part of ISO 18115 covers terms used in scanning-probe microscopy.
信息：ICS：01.040.71;71.040.40 CCS：A43 发布：2013-11-15 实施：
GOST R 8.593-2009 确保测量一致性的国家体系.原子力扫描隧道显微镜.检定规程
简介：
信息：ICS：17.040.01 CCS： 发布：2009 实施：2010-11-01
JY/T 0586-2020 激光扫描共聚焦显微镜分析方法通则
简介：
信息：ICS：03.180 CCS：Y51 发布：2020-09-29 实施：2020-12-01
ISO 18115-2:2013 表面化学分析——词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
简介：
信息：ICS：01.040.71 CCS： 发布：2013-11-04 实施：
GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法
简介：
信息：ICS：17.040.01 CCS： 发布：2007 实施：2008-08-01
ASTM F1438-93(2020) 用于气体分配系统部件扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准测试方法
简介：
信息：ICS：17.040.20 CCS： 发布：2020-04-15 实施：
ASTM E2382-04(2012) 扫描隧道显微镜和原子力显微镜中的扫描仪和尖端相关人工标准指南
简介：
信息：ICS：17.040.20 CCS： 发布：2012-11-01 实施：
GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法
简介：
信息：ICS：17.040.01 CCS： 发布：2007 实施：2008-08-01
ISO 21222-2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS： 发布：2020-01-29 实施：
ASTM F1438-93(2012) 用于气体分配系统部件扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准测试方法
简介：
信息：ICS：17.040.20 CCS： 发布：2012-07-01 实施：
GOST R 8.631-2007 国家测量统一性保证体系.扫描电子测量显微镜.验证方法
简介：
信息：ICS：17.040.01 CCS： 发布：2007 实施：2008-02-01
ISO 11952-2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS： 发布：2019-05-21 实施：
JJF 1351-2012 扫描探针显微镜校准规范
简介：本规范适用于以几何表面形貌为测量对象的扫描探针显微镜的校准。扫描探针显微镜根据其设计原理不同，校准时需要根据实际情况选择相关的计量特性。对有特殊要求的测量任务，如对溯源要求较高的测量，不在本校准规范的适用范围。
信息：ICS： CCS：N32 发布：2012-06-18 实施：2012-09-18
KS D 2714-2006 扫描探针显微镜.横向剪切力的测量方法
简介：이 규격은 주사 탐침 현미경의 횡방향 수평력 현미경 기능을 이용한 미세 횡방향 수평력 측정
信息：ICS：37.020 CCS：H14 发布：2006-12-22 实施：2006-12-22
ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS： 发布：2019-05-21 实施：
ISO 11039-2012 表面化学分析.扫描探针显微镜.漂移率的测定标准
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：N32 发布：2012-02 实施：
KS D 2714-2006 扫描探针显微镜.横向剪切力的测量方法
简介：이 규격은 주사 탐침 현미경의 횡방향 수평력 현미경 기능을 이용한 미세 횡방향 수평력 측정
信息：ICS：37.020 CCS：H14 发布：2006-12-22 实施：2006-12-22
JIS K0147-2-2017 表面化学分析. 词汇. 第2部分: 扫描探针显微镜用术语
简介：
信息：ICS：01.040.71;71.040.40 CCS：A43 发布：2017-08-21 实施：
ISO 11039:2012 表面化学分析——扫描探针显微镜——漂移率的测量
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS： 发布：2012-01-23 实施：
JIS K3850-1-2006 空中纤维分子的测定.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
简介：この規格は，空気中に浮遊している繊維状粒子を測定する方法について規定する。空気中に浮遊している繊維状粒子は種類が多く，種類に応じて位相差顕微鏡，位相差・分散顕微鏡，走査電子顕徴鏡又は透過電子顕微鏡を用いるが，この規格では，これらのうち，位相差顕微鏡，位相差・分散顕微鏡及び走査電子顕微鏡を用いて測定する方法について規定する。
信息：ICS：13.040.20 CCS：G04 发布：2006-10-20 实施：
KS D 2714-2016(2021) 扫描探针显微镜－侧向力显微镜法
简介：
信息：ICS：77.120.30 CCS： 发布：2016-12-19 实施：
BS ISO 27911-2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2011-08-31 实施：2011-08-31
ASTM E2382-2004(2012) 扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的标准指南
简介：4. Significance and UseTop Bottom 4.1 This compilation is limited to artifacts observed in scanning tunneling microscopes and contact-mode atomic force microscopes. In particular, this document focuses on artifacts related to probe motion and geometrical considerations of the tip and surface interaction. Many of the artifacts described here extend to other scanned probe microscopies where piezoscanners are used as positioning elements or where tips of similar geometries are used. These are not the only artifacts associated with measurements obtained by STM or AFM. Artifacts can also arise from the following: control electronics (for example, improper feedback gains); noise (mechanical, acoustic, or electronic); drift (thermal or mechanical); problems unique to signal detection methods (for example, laser spillover in optical lever schemes); improper use of image processing (real time or post processed); sample preparation, environment (for example, humidity) and tip-surface interaction (for example, excessive electrostatic, adhesive, shear, and compressive forces). It is suggested that these other types of artifacts form the basis of future ASTM guides. 1.1 All microscopes are subject to artifacts. The purpose of this document is to provide a description of commonly observed artifacts in scanning tunneling microscopy (STM) and atomic force microscopy (AFM) relating to probe motion and geometric considerations of the tip and surface interaction, provide literature references of examples and, where possible, to offer an interpretation as to the source of the artifact. Because the scanned probe microscopy field is a burgeoning one, this document is not meant to be comprehensive but rather to serve as a guide to practicing microscopists as to possible pitfalls one may expect. The ability to recognize artifacts should assist in reliable evaluation of instrument operation and in reporting of data. 1.2 A limited set of terms will be defined here. A full description of terminology relating to the description, operation, and calibration of STM and AFM instruments is beyond the scope of this document. 1.3 The values stated in SI units are to be regarded as standard. No other units of measurement are included in this standard.
信息：ICS：17.040.20 (Properties of surfaces) CCS： 发布：2004 实施：
KS D 2713-2016(2021) NSOM（近场扫描光学显微镜）空间分辨率的评估
简介：
信息：ICS：77.120.30 CCS： 发布：2016-12-19 实施：
ISO 27911-2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义与校准
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：N32 发布：2011-08 实施：
ASTM E2382-2004 扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的指南
简介：1.1 All microscopes are subject to artifacts. The purpose of this document is to provide a description of commonly observed artifacts in scanning tunneling microscopy (STM) and atomic force microscopy (AFM) relating to probe motion and geometric considerations of the tip and surface interaction, provide literature references of examples and, where possible, to offer an interpretation as to the source of the artifact. Because the scanned probe microscopy field is a burgeoning one, this document is not meant to be comprehensive but rather to serve as a guide to practicing microscopists as to possible pitfalls one may expect. The ability to recognize artifacts should assist in reliable evaluation of instrument operation and in reporting of data.1.2 A limited set of terms will be defined here. A full description of terminology relating to the description, operation, and calibration of STM and AFM instruments is beyond the scope of this document.
信息：ICS：17.040.20 (Properties of surfaces) CCS：N32 发布：2004 实施：
SN/T 4388-2015 皮革鉴定 扫描电镜和光学显微镜法
简介：本标准规定了皮革扫描电镜和光学显微镜的鉴定方法。本标准适用于牛皮革、羊皮革、猪皮革、全粒面皮革和剖层革等的鉴定。
信息：ICS：/ CCS：/ 发布：2015-12-04 实施：2016-07-01
BS ISO 28600-2011 表面化学分析.扫描探针显微镜的数据传送格式
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2011-07-31 实施：2011-07-31
JIS K3850-1-2000 空气中纤维粒子的测量方法.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
简介：
信息：ICS：13.040.20 CCS：G04 发布：2000-02-20 实施：
SN/T 4388-2015 皮革鉴定 扫描电镜和光学显微镜法
简介：本标准规定了皮革扫描电镜和光学显微镜的鉴定方法。本标准适用于牛皮革、羊皮革、猪皮革、全粒面皮革和剖层革等的鉴定。
信息：ICS：/ CCS：/ 发布：2015-12-04 实施：2016-07-01
BS ISO 28600-2011 表面化学分析.扫描探针显微镜的数据传送格式
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2011-07-31 实施：2011-07-31
ASTM F1438-93(1999) 用于气体分配系统部件扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准测试方法
简介：
信息：ICS：17.040.20 CCS： 发布：1999-06-10 实施：
BS ISO 11775-2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2015-10-31 实施：2015-10-31
ISO 27911:2011 表面化学分析——扫描探针显微镜——近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS： 发布：2011-07-21 实施：
ASTM F1438-93(2005) 用于气体分配系统部件扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准测试方法
简介：
信息：ICS：17.040.20 CCS： 发布：1999-06-10 实施：
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