能谱仪检测标准能谱仪-中析研究所检测

(CMA)

(CNAS)

(ISO)

(高新技术企业)

能谱仪相关标准参考信息

GB/T 29732-2021 表面化学分析中等分辨俄歇电子能谱仪元素分析用能量标校准
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2021-12-31 00:00:00.0 实施：2022-07-01 00:00:00.0

HB 20094.4-2012 航空工作液中磨损金属含量检测第4部分：扫描电镜和能谱仪检测法
简介：本部分规定了用扫描电镜和能谱仪检测航空工作液中磨损金属含量的方法和要求。本部分适用于从航空工作液中分离出来的金属磨损颗粒的定性或定量分析,其他磨损金属也可参照使用。
信息：ICS： CCS：V13 发布：2013-01-04 实施：2013-05-01

JJG(教委) 013-1996 电子能谱仪检定规程
简介：
信息：ICS： CCS：发布：2004-03-23 实施：2004-03-23

GB/T 40196-2021 X射线荧光能谱仪测定防腐木材和木材防腐剂中CCA和ACQ的方法
简介：
信息：ICS：71.040.50 CCS：B71 发布：2021-05-21 00:00:00.0 实施：2021-12-01 00:00:00.0

BS ISO 16129-2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：N54 发布：2012-12-31 实施：2012-12-31

ISO 17974:2002 表面化学分析——高分辨率俄歇电子能谱仪——元素和化学状态分析用能量标度的校准
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：发布：2002-10-17 实施：

GB/T 35158-2017 俄歇电子能谱仪检定方法
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2017-12-29 00:00:00.0 实施：2018-11-01 00:00:00.0

ISO 16129:2012 表面化学分析——X射线光电子能谱；X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：发布：2012-04-12 实施：

EJ/T 1139-2001 勘查用γ辐射仪和γ能谱仪性能和测试方法
简介：
信息：ICS：27.120.30 CCS：F85 发布：2001-11-15 实施：2002-02-01

GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪能量标尺的校准
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2017-09-07 00:00:00.0 实施：2018-01-01 00:00:00.0

ISO 16129-2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2012-04 实施：

ASTM E2108-00 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
简介：
信息：ICS：71.040.50 CCS：发布：2000-09-10 实施：

GB/T 20726-2015 微束分析电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
简介：本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的性能参数。本标准仅适用于基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)联用的EDS性能参数的最低要求以及核查方法。至于实际分析过程，在ISO 22309和ASTM E1508中已有规范，不在本标准范围之内。
信息：ICS：71.040.99 CCS：G04 发布：2015-10-09 实施：2016-09-01

KS D ISO 17974-2011(2016) 表面化学分析高分辨率俄歇电子能谱仪元素和化学状态分析用能标的校准
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：发布：2011-12-30 实施：

ASTM E1217-00 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
简介：
信息：ICS：71.040.50 CCS：发布：2000-04-10 实施：

GB/T 29731-2013 表面化学分析高分辨俄歇电子能谱仪元素和化学态分析用能量标校准
简介：本标准规定了用于表面元素和化学态分析的俄歇电子能谱的动能标校准方法。并且还规定了校准日程安排,用于在中间某一能量值测试动能标线性、在高低动能区各取一点确认标尺校准的不确定度、校正标尺小漂移以及规定在95%置信度时该动能标校准的扩展不确定度(这个不确定度包括实验室之间研究中观察到的各种现象,但不涵盖所有可能的缺陷)。本标准仅适用于配备溅射清洁离子枪的仪器。不适用于以下情况的仪器:动能标尺的误差随能量明显非线性变化;工作于谱仪的相对分辨率低于0.2%的固定△E/E模式或固定△E为1.5 eV模式时,要求容差极限为±0.05 eV或更小。也不适用于电子枪不能在5 keV~10 keV能量范围操作的仪器。本标准不提供全标尺校准检验,该检验要对每一个在能量标尺上能设定的点加以验证,且应按仪器制造商的推荐程序进行。
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2013-09-18 实施：2014-06-01

KS D ISO 17973-2011(2016) 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析用能标的校准
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：发布：2011-12-30 实施：

ASTM E902-94(1999) 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准实施规程
简介：
信息：ICS：17.180.30 CCS：发布：1999-09-10 实施：

GB/T 17361-2013 微束分析沉积岩中自生粘土矿物鉴定扫描电子显微镜及能谱仪方法
简介：本标准规定了用扫描电子显微镜及能谱仪对沉积岩自生粘土矿物的晶体形态及化学成分进行鉴定的方法。本标准主要用于石油、天然气沉积岩中常见自生粘土矿物鉴定分析。其他自生粘土矿物鉴定分析可参照执行。
信息：ICS：71.040.40 CCS：D04 发布：2013-07-19 实施：2014-03-01

ASTM E1217-11 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
简介：
信息：ICS：71.040.50 CCS：发布：2011-11-01 实施：

IEEE N 42.14-1999 放射性核素的γ射线放射率测量用锗能谱仪的校正和使用
简介：This standard establishes methods for the calibration and use of germanium (Ge) spectrometers for the measurementof gamma-ray energies and emission rates over the energy range from 59 keV to approximately3000 keV, and the calculation of source activities from these measurements. This standard establishes minimumrequirements for automated peak finding and methods for measuring the full-energy peak efficiencywith calibrated sources.
信息：ICS：17.240 CCS：F81 发布：1999-05-12 实施：

GB/T 25189-2010 微束分析.扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法
简介：本标准规定了扫描电镜-能谱仪化学成分定量分析相关参数的测定方法。本标准适用于对扫描电镜中影响定量分析性能的相关参数和能谱仪基本参数的测定，并以元素成分定量分析结果对仪器做出综合分析。
信息：ICS：71.040.99 CCS：N54;N53 发布：2010-09-26 实施：2011-08-01

ASTM E2108-10 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
简介：
信息：ICS：71.040.50 CCS：发布：2010-11-01 实施：

CSN 35 6575 Z1-1997 半导体X射线能谱仪的标准测试程序
简介：
信息：ICS： CCS：发布：1997-1-1 实施：

GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪鉴定方法
简介：本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线，且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。
信息：ICS：71.010.40 CCS：G04 发布：2010-09-26 实施：2011-08-01

ISO 15472:2010 表面化学分析——X射线光电子能谱仪——能量标度的校准
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：发布：2010-04-19 实施：

SJ/T 10714-1996 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准方法
简介：1.1 本标准规定了X射线光电子能谱仪信背比、分辨力、短期电压稳定性、传输特性及能量坐标线性等工作特性的检查过程。1.2本标准适用于能量通道为数字计数存储的谱仪。1.3 本标准旨在对仪器制造厂商提出的校准步骤进行补充。不能作为不同仪器之间进行性能比较的依据。只能作为某一谱仪工作特性的自治性检查。1.4 使用本标准可能涉及有害的操作、设备及物质。但本标准没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本标准前，应该制定适当的安全与保健措施，并决定本标准的应用范围。
信息：ICS：17.220 CCS：L85 发布：1996-07-22 实施：1996-11-01

GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
简介：本标准规定了一种用于一般分析目的时校准X射线电子能谱仪结合能标尺的方法，该谱仪使用非单色化Al或MgX射线或单色化AlX射线。它仅适于带有溅射清洁用的离子枪的仪器。本标准还进一步规定了一种方法，用以建立校准程序、在中间某一能量值测试结合能标尺线性度、在高低结合能区各取一点确认标尺校准的不确定度、对标尺的小漂移作修正以及规定在95%置信度时该结合能标尺校准的扩展不确定。这个不确定度包括来自实验室际研究中观察到的现象的贡献，但不涵盖所有可能发生的缺陷。本标准不适用于有下述情况的仪器：结合能标尺的误差随能量明显非线性变化、工作在固定减速比模式且减速比小于10、谱仪的分辨率差于1.5eV或者要求公差极限为±0.03eV或更小。本标准不提供全标尺校准检验，该检验要对每一个在能量标尺上能找到的点加以验证，必须按仪器制造商的推荐程序进行。
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2008-12-11 实施：2009-10-01

KS C IEC 60759-2009(2019) 半导体X射线能谱仪的标准测试程序
简介：
信息：ICS：17.240 CCS：发布：2009-12-30 实施：

EJ/T 584-1994 勘探用便携式γ辐射仪和γ能谱仪
简介：
信息：ICS：17.240 CCS：F85 发布：1994-10-24 实施：1995-01-01

GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标的线性
简介：本标准规定了两种方法，用于测定 AES 和 XPS 谱仪强度标在容许线性离散限度范围内的最大计数率。它也包括校正强度非线性的方法，以便那些谱仪可使用更高的最大计数率，对于这些谱仪相关的校正公式已被证明是有效的。
信息：ICS：17.040.30 CCS：N54 发布：2007-07-26 实施：2008-03-01

KS C IEC 60759-2009 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
简介：이 표준은 반도체 X-선 에너지 분광계에 대한 표준 시험절차를 제시한다. 해당 계통은 반도
信息：ICS：17.240 CCS：F81 发布：2009-12-30 实施：2009-12-30

JJG(教委) 09-1992 电子能谱仪检定规程
简介：
信息：ICS： CCS：A55 发布：1992 实施：

GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则
简介：本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪（EDS）特性最重要的量值。本标准仅适用于国态电离作用原理的半导体探测器EDS。本标准只规定了与电子探针（EPMA）或扫描电镜（SEM）联用的此类EDS的最低要求，至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。
信息：ICS：71.040.99 CCS：N33 发布：2006-12-25 实施：2007-08-01

IEC 60759-1983/AMD1-1991 修改件1——半导体X射线能谱仪的标准试验程序
简介：
信息：ICS：17.240 CCS：发布：1991-11-15 实施：

GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
简介：本标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。本标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。
信息：ICS：27.120.01 CCS：F80 发布：2003-07-07 实施：2004-01-01

KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：发布：2005-12-28 实施：

IEC 60759:1983/AMD1:1991 修改件1——半导体X射线能谱仪的标准试验程序
简介：
信息：ICS：17.240 CCS：发布：1991-11-15 实施：

T/WHAEPI 005-2021 建筑材料检测专用NaI低本底多道γ能谱仪
简介：本文件规定了建筑材料检测专用NaI低本底多道γ能谱仪的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、贮存与运输。本文件适用于测量建筑材料中弱γ放射性活度的NaI低本底多道γ能谱仪。
信息：ICS：13.280 CCS：C402 发布：2021-12-29 实施：2021-12-31

KS D ISO 21270-2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
简介：이 규격은 X선 광전자 및 오제 전자 분광계의 세기 눈금 직선성의 발산 허용 한계에 대한
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2005-12-28 实施：2005-12-28

IEC 60759 AMD 1-1991 半导体X射线能谱仪的标准试验程序修改1
简介：Replaces one sentence in sub-clause 7.4.1 (page 55) and the Figure 15a (page 94).
信息：ICS：17.240 CCS：N54 发布：1991-11 实施：

DIN ISO 16129-2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
简介：This document provides a rapid set of tests for assessing several key parameters of an X-ray photoelectron spectrometer. The document is intended for use with a monochromated Al KAlpha source or with an unmonochromated Al or Mg KAlpha X-ray source.
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2020-11-01 实施：

JJG(核工) 21-1991 地面γ能谱仪检定规程
简介：
信息：ICS： CCS：A58 发布：1991 实施：

ASTM E1217-11(2019) 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
简介：
信息：ICS：71.040.50 CCS：发布：2019-11-01 实施：

KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪部分性能参数说明
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：发布：2005-12-28 实施：

IEEE N42.14-1990 放射性核素的γ射线放射率测量用锗能谱仪的校正和使用
简介：
信息：ICS：17.240 CCS：F81 发布：1990 实施：

ISO 16129-2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：发布：2018-11-15 实施：

ASTM E1217-05 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
简介：
信息：ICS：71.040.50 CCS：发布：2005-11-01 实施：

SIS SS IEC 759-1986 核检测仪表．半导体X射线能谱仪检测程序
简介：
信息：ICS： CCS：发布：1986-06-25 实施：

ASTM E2108-16 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
简介：
信息：ICS：71.040.50 CCS：发布：2016-11-01 实施：

ASTM E2108-05 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
简介：
信息：ICS：71.040.50 CCS：发布：2005-11-01 实施：

IEC 60759:1983 半导体X射线能谱仪的标准测试程序
简介：
信息：ICS：17.240 CCS：发布：1983-01-01 实施：

EJ/T 584-2014 勘查用便携式γ辐射仪和四道γ能谱仪
简介：本标准规定了勘查用便携式γ辐射仪和四道γ能谱仪的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存。本标准适用于使用γ闪烁探测器的勘查用便携式γ辐射仪和四道γ能谱仪。
信息：ICS：17.240 CCS：F85 发布：2014-05-06 实施：2014-10-01

ISO 21270:2004 表面化学分析——X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪——强度标度线性
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：发布：2004-06-15 实施：

IEC 60759-1983 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
简介：Such systems consist of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Test procedures for pulse-height analyzers and computers are not covered in this standard. Companion pub
信息：ICS：17.240 CCS：F81 发布：1983 实施：

ISO 21270-2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
简介：本标准规定了两种方法，用于测定AES和XPS谱仪强度标在容许线性离散限度范围内的最大计数率。它也包括校正强度非线性的方法，以便那些谱仪可使用更高的最大计数率，对于这些谱仪相关的校正公式已被证明是有效的。
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2004-06 实施：

JY/T 013-1996 电子能谱仪方法通则
简介：
信息：ICS： CCS：A18 发布：实施：