x荧光光谱怎么样检测标准

发布时间：2023-02-13 00:47:58 • 阅读量： • 来源：中析研究所

x荧光光谱怎么样相关标准参考信息

GB/T 41497-2022 钒铁钒、硅、磷、锰、铝、铁含量的测定波长色散X射线荧光光谱法
简介：
信息：ICS：77.100 CCS：H11 发布：2022-04-15 00:00:00.0 实施：2022-11-01 00:00:00.0

GB/T 34534-2017 焦炭灰成分含量的测定 X射线荧光光谱法
简介：
信息：ICS：75.160.10 CCS：H32 发布：2017-10-14 00:00:00.0 实施：2018-05-01 00:00:00.0

GB/T 11140-2008 石油产品硫含量的测定.波长色散X射线荧光光谱法
简介：1.1本标准规定了单相及室温条件下液态的、适当加热呈液态的或者可溶于烃类溶剂的石油和石油产品总硫含量的测定方法。本标准适用于测定柴油、喷气燃料、煤油、其他馏分油、石脑油、渣油、润滑油基础油、液压油、原油、车用汽油、含醇汽油和生物柴油。1.2用ASTM D6259统计过程计算出本标准的合并测定极限值为3 mg／kg。1.2.1对于一台特定的实验室仪器，其测定极限值和精密度取决于仪器的x射线管的功率(低或高功率)、样品的类型以及实验室对此方法的具体操作。1.3对于硫含量超过4．6％(质量分数)的样品可以通过对样品的稀释，使其硫含量达到本标准的适用范围。稀释后样品测定结果会比第14章提到的未稀释样品测定结果的误差高。1.4挥发性样品(如高蒸气压汽油或轻质烃类)因为分析期间轻质组分的选择性损失,可能不符合本标准的精密度。1.5本标准的一个基本假定,是标准样品与待测样品的基体物质非常匹配或如12.2中所说明的基体物质的不同。标准样品与待测样品之间碳氢质量比的差异或存在其他干扰元素或物质(见表1),会造成基体物质的不匹配。1.6本标准采用SI国际单位制单位。1.7本标准只对某些与试验过程有关的特殊危险予以说明,而没有提及所有的安全问题。因此，用户在使用本标准之前应建立适当的安全和防护措施,并制定相应的管理制度。
信息：ICS：75.080 CCS：E30 发布：2008-08-25 实施：2009-02-01

GB/T 3286.11-2022 石灰石及白云石化学分析方法第11部分：氧化钙、氧化镁、二氧化硅、氧化铝及氧化铁含量的测定波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)
简介：
信息：ICS：73.080 CCS：D52 发布：2022-03-09 00:00:00.0 实施：2022-10-01 00:00:00.0

GB/T 5195.15-2017 萤石钙、铝、硅、磷、硫、钾、铁、钡、铅含量的测定波长色散X射线荧光光谱法
简介：
信息：ICS：73.080 CCS：D52 发布：2017-09-07 00:00:00.0 实施：2018-06-01 00:00:00.0

GB/Z 21277-2007 电子电气产品中限用物质铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选.X射线荧光光谱法
简介：安全提示：X射线荧光光谱使用了对人体有危险的放射性辐射，因此使用该仪器时必须遵守仪器生产商申明的和国家安全规定，而且使用该设备的人员需要进行上机前安全培训和定期安全检查。本指导性技术文件规定了用X射线荧光光谱法快速筛选电子电气产品中限制使用物质铅、汞、铬、镉和溴的测定方法，其中所测定的铬和溴是指样品中总铬和总溴。本指导性技术文件规定的X射线荧光光谱包括能量色散型X射线荧光光谱（EDXRF)和波长色散型X射线荧光光谱（WDXRF),也同样适用于便携式或手提式X射线光谱。
信息：ICS：31.020 CCS：L10 发布：2007-12-20 实施：2008-06-01

GB/T 6609.30-2022 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第30部分：微量元素含量的测定波长色散X射线荧光光谱法
简介：
信息：ICS：71.100.10 CCS：H12 发布：2022-03-09 00:00:00.0 实施：2022-10-01 00:00:00.0

GB/T 4333.5-2016 硅铁硅、锰、铝、钙、铬和铁含量的测定波长色散X-射线荧光光谱法（熔铸玻璃片法）
简介：
信息：ICS：77.100 CCS：H11 发布：2016-12-13 00:00:00.0 实施：2017-09-01 00:00:00.0

GB/T 223.79-2007 钢铁多元素含量的测定 X-射线荧光光谱法(常规法)
简介：GB／T 223的本部分规定了用X-射线荧光光谱法测定硅、锰、磷、硫、铜、铝、镍、铬、钼、钒、钛、钨和铌的含量本部分适用于铸铁、生铁、非合金钢、低合金钢，各元素测定范围见表1
信息：ICS：77.080.01 CCS：H11 发布：2007-09-11 实施：2008-02-01

GB/T 40915-2021 X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量
简介：
信息：ICS：81.040.01 CCS：Y22 发布：2021-11-26 00:00:00.0 实施：2022-06-01 00:00:00.0

GB/T 33352-2016 电子电气产品中限用物质筛选应用通则 X射线荧光光谱法
简介：本标准规定了能量色散X射线荧光光谱筛选测试电子电气产品中铅(Pb)、汞(Hg) 、镉(Cd)、总铬(Cr)和总溴(Br)等元素的仪器、人员技术能力、测试程序、质量控制、文档记录等要求。本标准适用于电子电气产品中铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、总铬(Cr)和总溴(Br)等元素的X射线荧光光谱筛选测试。波长色散X射线荧光光谱筛选测试应用也可参照执行。
信息：ICS：31.020 CCS：L10 发布：2016-12-13 实施：2017-07-01

GB/T 6730.62-2005 铁矿石钙、硅、镁、钛、磷、锰、铝和钡含量的测定波长色散X射线荧光光谱法
简介：本部分规定了用波长色散X射线荧光光谱仪测定铁矿石中钙、硅、镁、钛、磷、锰、铝和钡含量的方法。本部分适用于铁矿石、人造富矿中表1所列的8个元素含量的测定，各元素测定范围（质量分数）见表1。
信息：ICS：73.060.10 CCS：D31 发布：2005-07-21 实施：2006-01-01

GB/T 5687.13-2021 铬铁铬、硅、锰、钛、钒和铁含量的测定波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)
简介：
信息：ICS：77.100 CCS：H11 发布：2021-08-20 00:00:00.0 实施：2022-03-01 00:00:00.0

GB/T 18882.2-2002 离子型稀土矿混合稀土氧化物化学分析方法 X-射线荧光光谱法测定十五个稀土元素氧化物的配分量
简介：本标准规定了离子型稀土矿混合稀土氧化物中十五个稀土元素氧化物的配分量的测定方法。本标准适用于离子型稀土矿混合稀土氧化物（TREO≥80％）中十五个稀土元素氧化物的配分量的测定。测定范围：0.20％～99.00％。
信息：ICS：77.120.99 CCS：H65 发布：2002-11-19 实施：2003-06-01

GB/T 40311-2021 钒渣多元素的测定波长色散X射线荧光光谱法（熔铸玻璃片法）
简介：
信息：ICS：77.100 CCS：H11 发布：2021-08-20 00:00:00.0 实施：2022-03-01 00:00:00.0

GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
简介：GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,测定范围见表1。
信息：ICS：77.120.10 CCS：H12 发布：2014-12-05 实施：2015-05-01

GB/T 18043-2000 贵金属首饰含量的无损检测方法 X射线荧光光谱法
简介：本标准规定了贵金属首饰含量的X射线荧光光谱无损检测方法及要求。本标准适用于首饰及其他工艺品中贵金属金、银、铂等表层含量的测定及委托检验（需征得委托方及被委托方同意）和生产企业内部管理（不包括生产质量控制）。
信息：ICS：39.060 CCS：Y88 发布：2000-04-05 实施：2000-09-01

GB/T 40312-2021 磷铁磷、硅、锰和钛含量的测定波长色散X射线荧光光谱法（熔铸玻璃片法）
简介：
信息：ICS：77.100 CCS：H11 发布：2021-08-20 00:00:00.0 实施：2022-03-01 00:00:00.0

GB/T 30905-2014 无机化工产品元素含量的测定 X射线荧光光谱法
简介：本标准规定了无机化工产品元素含量的测定X射线荧光光谱法的术语和定义、方法原理、波长色散X射线荧光光谱仪的组成、样品的制备、定量分析、精密度、实验室安全。本标准适用于波长色散X射线荧光光谱仪对无机化工产品中元素含量的测定。可分析从Be至U之间的元素,分析元素的含量范围为0.000 1%~100%。
信息：ICS：71.060.01 CCS：G10 发布：2014-07-08 实施：2014-12-01

GB/T 17606-1998 原油中硫含量的测定能量色散X射线荧光光谱法
简介：本标准规定了用能量色散X射线荧光光谱法测定原油硫含量的方法。本标准适用于测定原油硫含量，其测定范围从0.05%~5.00%（质量分数）。
信息：ICS：75.040 CCS：E21 发布：1998-12-08 实施：1999-05-01

GB/T 40110-2021 表面化学分析全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染
简介：
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2021-05-21 00:00:00.0 实施：2021-12-01 00:00:00.0

GB/T 30701-2014 表面化学分析硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
简介：本标准规定了硅片工作标准样品表面元素铁和/或镍的化学收集方法(气相分解法或直接酸性液滴分解法)和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定。本标准适用于原子表面密度介于6×10 atoms/cm~5×10 atoms/cm范围的铁和/或镍。
信息：ICS：71.040.40 CCS：G04 发布：2014-06-09 实施：2014-12-01

GB/T 17416.2-1998 锆矿石化学分析方法 X射线荧光光谱法测定锆量和铪量
简介：本标准规定了锆矿石中锆含量和铬含量的测定方法。本标准适用于锆矿石，也适用于其他稀有金属矿石中锆含量和铪含量的测定。测定范围：16×10～8.7×10二氧化锆；34×10～3.0×10二氧化铪。
信息：ICS：73.060 CCS：D43 发布：1998-06-17 实施：1999-01-01

GB/T 39560.301-2020 电子电气产品中某些物质的测定第3-1部分：X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴
简介：
信息：ICS：31.020 CCS：L10 发布：2020-12-14 00:00:00.0 实施：2021-07-01 00:00:00.0

GB/T 18043-2013 首饰贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法
简介：本标准规定了应用X射线荧光光谱测定首饰中贵金属含量的方法及要求。本标准适用于首饰和其他工艺品的定性分析及其中的贵金属(金、银、铂、钯)含量的筛选检测。
信息：ICS：39.060 CCS：Y88 发布：2013-12-17 实施：2014-03-01

GB/T 17040-1997 石油产品硫含量测定法(能量色散X射线荧光光谱法)
简介：本标准规定了用能量色散X射线荧光光谱法测定石油产品中硫含量的方法。本标准适用于石脑油、馏分油、燃料油、渣油、润滑油基础油和无铅汽油等碳氢化合物。硫含量测定范围从0.05%(m/m)～5%(m/m)。本标准涉及到一些有害健康的材料、操作和设计，但本标准没有说明使用它时所涉及到的所有安全问题。因此在使用本标准以前，用户必须建立一些合适的安全措施和有适用性的管理制度。对于一些特殊的预防说明见第7章。
信息：ICS：75.080 CCS：E30 发布：1997-10-14 实施：1998-04-01

GB/T 8151.22-2020 锌精矿化学分析方法第22部分：锌、铜、铅、铁、铝、钙和镁含量的测定波长色散X射线荧光光谱法
简介：
信息：ICS：77.120.60 CCS：H13 发布：2020-09-29 00:00:00.0 实施：2021-08-01 00:00:00.0

GB/T 29513-2013 含铁尘泥 X射线荧光光谱化学分析熔铸玻璃片法
简介：本标准规定了 X射线荧光光谱法测定含铁尘泥中成分的原理、试剂与材料、仪器与设备、试样、玻璃样片的制备、X射线荧光光谱分析、试验报告、精密度等。本标准适用于炼铁、炼钢含铁尘泥中全铁、二氧化硅、氧化钙、氧化镁、三氧化二铝、二氧化钛、氧化锰、五氧化二磷和氧化锌九种化学成分的X射线荧光光谱同时测定,测定范围列入表1。
信息：ICS：77.040.99 CCS：H11 发布：2013-05-09 实施：2014-02-01

GB/T 16597-1996 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则
简介：本标准规定了用X射线荧光光谱法进行元素定量分析的一般事项，包括所涉及的常用术语、基本原理、仪器、样品处理、定量分析等，供以X射线管作激发源的波长色散X射线荧光光谱仪使用。本标准适用于制（修）订冶金产品的X射线荧光光谱法国家标准或行业标准，其他标准也可参照使用。
信息：ICS：77.040.30 CCS：H10 发布：1996-11-04 实施：1997-04-01

GB/T 21114-2019 耐火材料 X射线荧光光谱化学分析熔铸玻璃片法
简介：
信息：ICS：81.080 CCS：Q40 发布：2019-06-04 00:00:00.0 实施：2020-05-01 00:00:00.0

GB/T 28020-2011 饰品.有害元素的测定.X射线荧光光谱法
简介：本标准规定了饰品中有害元素的X射线荧光光谱检测方法。本标准适用于各种材质的饰品(珠宝玉石除外)表层中有害元素的检测。
信息：ICS：39.060 CCS：Y88 发布：2011-10-31 实施：2012-02-01

GB/T 14506.28-1993 硅酸盐岩石化学分析方法 X射线荧光光谱法测定主、次元素量
简介：本标准规定了硅酸盐岩石中主、次成分的测定方法。本标准适用于包括超基性岩在内的硅酸盐岩石中二氧化硅、三氧化二铝、全铁（以Fe2O3表示）、氧化镁、氧化钙、氧化钠、氧化钾、二氧化钦、氧化锰、五氧化二磷、氧化钡、三氧化二铬、镍、铜、锶和锆的测定，也适用于粘土、土壤、水系沉积物等地质样品中上述成分的测定。
信息：ICS：73.080 CCS：D53 发布：1993-06-19 实施：1994-02-01

GB/T 16597-2019 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则
简介：
信息：ICS：77.040.30 CCS：H10 发布：2019-06-04 00:00:00.0 实施：2020-05-01 00:00:00.0

GB/T 14849.5-2010 工业硅化学分析方法.第5部分：元素含量的测定.X射线荧光光谱法
简介：本标准规定了工业硅中Fe、Al、Ca含量的测定方法。本方法适用于工业硅中Fe、Al、Ca含量的测定，测定范围见表1.表1略。
信息：ICS：77.120.10 CCS：H12 发布：2011-01-14 实施：2011-11-01

GB/T 12690.7-1990 稀土金属及其氧化物化学分析方法 X射线荧光光谱法测定金属钕和氧化钕中氧化镧、氧化铈、氧化镨、氧化钐和氧化钇量
简介：本标准规定了金属钕和氧化钕中氧化镧、氧化铈、氧化镨、氧化钐、氧化钛含量的测定方法。本标准适用于金属钕和氧化钕（80％～98％）中氧化镧、氧化铈、氧化镨、氧化钐、氧化钇含量的同时测定。测定范围均为0.30％～10.00％。
信息：ICS：77.120.70 CCS：H14 发布：1990-12-30 实施：

GB/T 37673-2019 煤灰中硅、铝、铁、钙、镁、钠、钾、磷、钛、锰、钡、锶的测定 X射线荧光光谱法
简介：
信息：ICS：73.040 CCS：D21 发布：2019-06-04 00:00:00.0 实施：2020-01-01 00:00:00.0

GB/T 24519-2009 锰矿石镁、铝、硅、磷、硫、钾、钙、钛、锰、铁、镍、铜、锌、钡和铅含量的测定波长色散X射线荧光光谱法
简介：本标准规定了用波长色散X射线荧光光谱法测定锰矿石中镁、铝、硅、磷、硫、钾、钙、钛、锰、铁、镍、铜、锌、钡和铅含量。
信息：ICS：73.060.20 CCS：D32 发布：2009-10-30 实施：2010-05-01

GB/T 12690.5-1990 稀土金属及其氧化物化学分析方法 X射线荧光光谱法测定氧化镨中氧化镧、氧化铈、氧化钕、氧化钐和氧化钇量
简介：本标准规定了氧化镨中氧化镧、氧化铈、氧化钕、氧化钐和氧化钇含量的测定方法。本标准适用于氧化镨（90％～99％）中氧化镧、氧化铈、氧化钕、氧化钐和氧化钇含量的同时测定。测定范围见表1。
信息：ICS： CCS：H14 发布：1990-12-30 实施：

GB/T 17040-2019 石油和石油产品中硫含量的测定能量色散X射线荧光光谱法
简介：
信息：ICS：75.080 CCS：E30 发布：2019-03-25 00:00:00.0 实施：2019-10-01 00:00:00.0

GB/T 24578-2009 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
简介：本标准规定了硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法。本标准适用于N型和P型硅单晶抛光片、外延片等镜面抛光的硅片，尤其适用于清洗后硅片自然氧化层，或经化学方法生长的氧化层中沾污元素的面密度测定。本方法适用于测量面密度在(10～10)atoms/cm的范围的元素。本方法是非破坏性的。
信息：ICS：29.045 CCS：H80 发布：2009-10-30 实施：2010-06-01

GB/T 8156.10-1987 工业用氟化铝中硫量的测定 X射线荧光光谱分析法
简介：本标准适用于工业用氟化铝中流量（以硫酸根表示）的测定。测定范围：0.01～2％。
信息：ICS：71.060.50 CCS：H12 发布：1987-08-10 实施：1988-06-01

GB/T 3884.21-2018 铜精矿化学分析方法第21部分：铜、硫、铅、锌、铁、铝、钙、镁、锰量的测定波长色散X射线荧光光谱法
简介：
信息：ICS：77.120.30 CCS：H13 发布：2018-09-17 00:00:00.0 实施：2019-06-01 00:00:00.0

GB/T 24231-2009 铬矿石.镁、铝、硅、钙、钛、钒、铬、锰、铁和镍含量的测定.波长色散X射线荧光光谱法
简介：警告：使用本标准的人员应有正规实验室工作的实践经验。本标准并未指出所有可能的安全问题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关规定条件。本标准规定了用波长色散X射线荧光光谱法测定铬矿石和铬精矿中镁、铝、硅、钙、钛、钒、铬、锰、铁和镍含量。本标准适用于铬矿、铬铁矿中上述元素含量的测定。
信息：ICS：73.060.30 CCS：D33 发布：2009-07-15 实施：2010-04-01

GB/T 2590.9-1981 氧化铪中氧化锆量的测定(X射线荧光光谱法)
简介：氧化铪中氧化锆量的测定（X射线荧光光谱法）
信息：ICS：71.060.20 CCS：H14 发布：1981-06-07 实施：1982-03-01

GB/T 24198-2009 镍铁.镍、硅、磷、锰、钴、铬和铜含量的测定.波长色散X-射线荧光光谱法(常规法)
简介：本标准规定了用波长色散x-射线荧光光谱法测定镍、硅、磷、锰、钴、铬和铜的含量。本方法适用于电炉、感应炉、转炉等铸态或锻轧镍铁的测定。
信息：ICS：77.100 CCS：H11 发布：2009-07-08 实施：2010-04-01

GB/T 21114-2007 耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 - 熔铸玻璃片法
简介：
信息：ICS：81.080 CCS：Q40 发布：实施：2008-02-01

GB/T 36226-2018 不锈钢锰、镍、铬、钼、铜和钛含量的测定手持式能量色散X射线荧光光谱法(半定量法)
简介：
信息：ICS：77.080.20 CCS：H11 发布：2018-05-14 00:00:00.0 实施：2019-02-01 00:00:00.0

GB/T 6609.30-2009 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法.第30部分:X射线荧光光谱法测定微量元素含量
简介：GB/T 6609的本部分规定了氧化铝中元素含量的测定方法。本部分适用于采用X射线荧光光谱法测定氧化铝中以下元素的含量：钠、硅、铁、钙、钾、钛、磷、钒、锌、镓。
信息：ICS：71.100.10 CCS：G13;H12 发布：2009-04-15 实施：2010-02-01

GB/T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
简介：
信息：ICS： CCS：发布：实施：2017-01-01

GB/T 36164-2018 高合金钢多元素含量的测定 X射线荧光光谱法(常规法)
简介：
信息：ICS：77.080.20 CCS：H11 发布：2018-05-14 00:00:00.0 实施：2019-02-01 00:00:00.0

GB/T 17606-2009 原油中硫含量的测定.能量色散X-射线荧光光谱法
简介：本标准适用于测定原油的总硫含量，硫含量质量分数测定范围为0.0150%~5.00%。本标准适用于含水质量分数不超过0.5%的原油样品，如果原油样品含水质量分数超过0.5%，可在不破坏样品完整性的情况下进行脱水。原油水含量依据GB/T 8929-2006进行检测。
信息：ICS：75.040 CCS：E21 发布：2009-04-08 实施：2009-11-01

ASTM E1085-22 用波长色散X射线荧光光谱法分析低合金钢的标准试验方法
简介：
信息：ICS：77.040.30 CCS：发布：2022-12-01 实施：

GB/T 36164-2018 高合金钢多元素含量的测定 X射线荧光光谱法(常规法)
简介：本标准规定了用“接近技术”提高X射线荧光光谱分析性能的常规方法。“接近技术”要求至少有一个与未知样品成分相近的目标样品[最好是有证标准物质/标准样品(CRM)]。本标准适用于高合金钢中硅、锰、磷、铬、镍、钼、铜、钴、钒、钛、铌含量的测定，各元素测定范围见表1。该标准适用于冷铸或锻造样品的分析，要求直径至少25 mm，碳含量小于0.3%(见注)。其他元素的含量应小于0.2%。所列元素间存在基体效应。为了补偿元素间的影响，应进行数学校正。仪器厂商的软件包中一般有各种用于校正的计算机程序。
信息：ICS：77.080.20 CCS：H11 发布：2018-05-14 实施：2019-02-01

GB/T 18043-2008 首饰.贵金属含量的测定.X射线荧光光谱法
简介：本标准规定了应用X射线荧光光谱测定首饰中贵金属含量的方法及要求。本标准仅适用于首饰及其他工艺品中贵金属（金、银、铂、钯）等含量的测定。本标准适用于委托检验时需征得委托方及被委托方同意，适用于不包括生产质量控制的生产企业内部管理。监督检验慎重使用。
信息：ICS：39.060 CCS：Y88 发布：2008-12-31 实施：2009-07-01

T/FJEMIA 6-2022 土壤中铜、锌、铅、镍、铬和砷含量快速筛查便携式能量色散X射线荧光光谱法
简介：当土壤样品中所含元素的原子受到高能X射线照射时，发射出具有一定能量的特征X射线谱。根据半导体探测器输出信号的脉冲高度正比于入射X射线光子能量的原理，半导体探测器探测土壤样品的特征X射线谱时，多道分析器各通道同时计数，可以实现多元素同时测量。通过探测不同特征X射线能量位置及强度进行定性和定量分析。
信息：ICS：13.020.01 CCS：N771 发布：2022-11-04 实施：2022-11-04

GB/T 35996-2018 磷矿石和磷精矿中八种元素含量的快速测定 X射线荧光光谱法
简介：
信息：ICS：73.080 CCS：D51 发布：2018-03-15 00:00:00.0 实施：2018-10-01 00:00:00.0