



标准简介
国家标准计划《电子组件用元器件和零件的晶须试验方法》由TC47(全国印制电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。拟实施日期:发布后6个月正式实施。
主要起草单位工业和信息化部电子第五研究所、中国电子技术标准化研究院。
主要起草人何骁 、薛超 。
标准基本信息
- 计划号
- 20230978-T-339
- 制修订
- 制定
- 项目周期
- 18个月
- 下达日期
- 2023-12-01
- 标准类别
- 方法
- 中国标准分类号
- L30
- 国际标准分类号
- 31.180
- 归口单位
- 全国印制电路标准化技术委员会
- 执行单位
- 全国印制电路标准化技术委员会
- 主管部门
- 工业和信息化部(电子)
相近标准
- 20241808-T-339 自动装配用元器件的包装 第4部分:不同形式封装的电子元器件用棍状弹匣盒
- 20201532-T-339 质量评价体系 第2部分:电子元器件及封装件检验用抽样方案的选择和使用
- 20242459-T-469 宇航用元器件过程控制体系(PCS)的建立和实施要求
- 20204844-T-339 使用条形码和二维符号的电子元器件产品包装标签
- 20243105-T-609 硫酸钙晶须
- SJ/T 2421-1996 电子元器件用镀锡铜包钢线
- SJ/T 10188-1991 印制板安装用元器件的设计和使用指南
- SJ/T 10188-2016 印制板安装用元器件的设计和使用指南
- SJ/T 11125-1997 电子元器件用环氧系灌封材料
- SJ/T 11124-1997 电子元器件用环氧系粉末包封材料
我们的实力
部分实验仪器




合作客户
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。