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cma资质(CMA)     CNAS资质(CNAS)     iso体系(ISO) 高新技术企业(高新技术企业)

信息概要

高纯铼是一种广泛应用于航空航天、电子工业、核能等领域的关键材料,其纯度直接影响材料性能与安全性。第三方检测机构通过专业分析手段,确保高纯铼产品符合国际标准及行业规范。检测项目涵盖化学成分、物理性能及微观结构等,旨在验证材料纯度、杂质控制水平及工艺稳定性,避免因材料缺陷导致的设备故障或安全隐患。通过检测可保障高纯铼在高温、高压及腐蚀性环境下的可靠性,为下游应用提供数据支撑。

检测项目

纯度分析,铼含量测定,杂质元素(钠、钾、钙、铁、镍、铜、锌、铅、砷、镉、铬、钼、钨、钛、钴、镁、铝、硅、硫、氯)含量检测,密度测试,硬度测试,晶粒度分析,表面粗糙度测量,热膨胀系数测定,导热系数测试,电阻率测试,抗拉强度评估,延展性分析,显微组织观察,孔隙率检测,氧化层厚度测量,残余应力分析,腐蚀速率测试,化学成分均匀性评估。

检测范围

高纯铼锭,高纯铼粉末,铼合金丝材,铼溅射靶材,铼涂层材料,铼单晶,铼多晶棒,铼薄片,铼箔材,铼管材,铼焊料,铼催化剂,核反应堆用铼部件,高温炉用铼元件,电子器件镀层铼,航空航天发动机铼部件,医疗设备铼组件,铼基复合材料,化学气相沉积铼薄膜,3D打印铼制品,半导体用超高纯铼材料。

检测方法

电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS):用于痕量杂质元素定量分析。

X射线荧光光谱法(XRF):快速测定元素组成及含量。

辉光放电质谱法(GDMS):高灵敏度检测超痕量杂质。

原子吸收光谱法(AAS):针对特定金属元素的精确测量。

扫描电子显微镜(SEM-EDS):微观形貌观察与元素分布分析。

热重分析(TGA):评估材料热稳定性与氧化行为。

四点探针法:测量电阻率及导电性能。

维氏硬度计:材料表面硬度测试。

金相显微镜:晶粒尺寸及组织结构表征。

气体分析仪:检测材料中残留气体含量。

激光粒度分析仪:粉末样品粒径分布测定。

超声波探伤仪:内部缺陷与孔隙率检测。

X射线衍射仪(XRD):物相组成及晶体结构分析。

高温拉伸试验机:评估材料高温力学性能。

电化学工作站:腐蚀速率与耐蚀性测试。

检测仪器

ICP-MS质谱仪,X射线荧光光谱仪,辉光放电质谱仪,原子吸收光谱仪,扫描电子显微镜,热重分析仪,四点探针测试系统,维氏硬度计,金相显微镜,气体分析仪,激光粒度分析仪,超声波探伤仪,X射线衍射仪,高温拉伸试验机,电化学工作站,电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES),傅里叶变换红外光谱仪(FTIR),质谱联用气相色谱仪(GC-MS),比表面分析仪,显微硬度计。

我们的实力

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部分实验仪器

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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。