杂散发射检测杂散发射-中析研究所检测

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(CNAS)

(ISO)

(高新技术企业)

杂散发射检测范围

杂散发射

杂散发射检测项目

标点辐射, 峰电流, 漏电流, 峰电流时间, 峰电流电压, 相对漏电流, 漏电流时间, 漏电流电压, 次谐波电压, 波形畸变率, 泄露电阻, 绝缘电阻, 电容电压, 电感电压, 电容漏电流, 电感漏电流, 过渡峰电流, 过渡峰电压, 耦合衰减, 耦合失真, 辐射光谱, 激发光谱, 驻波比, 射频功率, 频率误差, 跳变速率, 脉冲印记幅度, 脉冲印记宽度, 脉冲印记周期, 脉冲印记间隔, 脉冲印记抖动, 频率分辨率, 功率分辨率, 功率动态范围, 相位噪声, 频率噪声, 稳定度, 投射雷击波, 抗雷击能力, 尘埃阻能力, 引弧电流, 引弧电压, 电流波形, 电压波形, 射频噪声, 射频失真, 设备散发, 设备感应, 包络线测试, 耦合测试, 效率测试

杂散发射检测方法

杂散发射：杂散发射是一种用于测量电子设备或电路中不应发出的无用电磁辐射的方法。它可以检测到设备或电路中可能存在的电磁辐射源，以评估其电磁兼容性和抗干扰能力。常见的杂散发射检测方法包括以下几种：

1. 频谱分析法：利用频谱分析仪测量电子设备或电路所产生的无用电磁辐射的频率和幅度。通过分析辐射的频谱可以确定其是否符合相关标准的要求。

2. 磁场扫描法：使用磁场扫描仪对电子设备或电路周围的磁场进行扫描，检测可能存在的磁场辐射源。这种方法可以帮助确定辐射的方向和强度。

3. 电场扫描法：使用电场扫描仪对电子设备或电路周围的电场进行扫描，检测可能存在的电场辐射源。这种方法可以帮助确定辐射的方向和强度。

4. 射频干扰测量法：利用射频干扰测量仪测量电子设备或电路产生的无用射频辐射。这种方法可以评估设备的无线电频率特性和发射功率。

5. 屏蔽效能测试法：通过在电子设备或电路周围放置屏蔽材料，测量不同频率下对电磁辐射的屏蔽效能，以评估设备的抗辐射能力。

6. 微波暗室测试法：在微波暗室内对电子设备或电路进行测试，通过测量设备在不同工作状态下的微波辐射水平，评估其电磁兼容性和电磁安全性。

7. 共模干扰抑制测试法：通过在电子设备或电路的输入端加入共模信号，测量输出端的干扰水平，以评估设备对共模干扰的抑制能力。

8. 电磁辐射探头测试法：使用电磁辐射探头对电子设备或电路进行测试，测量设备或电路辐射的电磁场强度和频率信息，进而评估其辐射性能。

9. 噪声谱密度测试法：通过测量电子设备或电路在不同工作状态下的噪声谱密度，判断设备的电磁辐射水平和抗干扰能力。

10. 抗干扰性能测试法：通过在电子设备或电路周围引入干扰源，测量设备的输出信号质量和性能稳定性，以评估其抗干扰能力。

杂散发射检测仪器

频谱仪, 频谱分析仪, 信号分析仪, 射频信号发生器, 信号源, 噪声分析仪, 射频干扰分析仪, 瞬态分析仪, 脉冲信号发生器, 功率谐波分析仪, 无线电频率计, 信号调制分析仪, 噪声指标分析仪, 信号损耗测试仪, 信号干扰测试仪, 噪声干扰分析仪, 噪声参数测量仪, 噪声系数测量仪, 射频功率分析仪, 信道仿真仪.