



电容测试检测范围
电解电容,有机电容,陶瓷电容,固体电解电容,聚合物电容,电容陶瓷电容,金属化膜固体电容,多层陶瓷片电容,金属箔电解电容,准导体电容,超级电容,铝负陶瓷,金属膜电容,铝电解电容,铝钽电容,聚酰亚胺薄膜电容,聚丙二烯薄膜电容,有机电容,多层陶瓷片电容,铝电解电容,蓝宝石电容,负陶瓷电容,部分可有铝钽电容,对数超级电容,有铝负陶瓷,固体铝电解电容
电容测试检测项目
直流电容测量,交流电容测量,介质损耗角正切测量,绝缘电阻测量,电压容积效应测量,温度系数测量,漏电流测量,电感测量,电阻测量,电势差测量,互感测量,等效串联电阻测量,等效串联电感测量,等效并联电阻测量,等效并联电感测量,功率因素测量,电流测量,电压测量,功率测量,频率测量,电阻温度系数测量,电感温度系数测量,电容温度系数测量,漏电流测量,静电电压测量,介质损耗测量,电介质强度测量,绝缘电阻测量,电感电容谐振测量,电容量测量,电压失真测量,电流失真测量,绝缘电阻测量,电势差测量,电场强度测量,电感温度系数测量,变压器参数测量,互感温度系数测量,功率因数测量,电源稳压测量,电源稳流测量,电源电流测量,电源电压测量,电源功率测量,功率频率特性测量,电源效率测量电容测试检测方法
电容测试方法:
1. 等效电路法:通过将待测电容与已知电阻串联,施加特定的交流信号,测量电阻与电容间的相位差,从而计算出待测电容的数值。
2. 并联法:通过将待测电容与已知电容并联,施加特定的交流信号,测量总体电容大小,从中减去已知电容的数值,计算出待测电容的数值。
3. 恢复时间法:将待测电容与已知电容并联,通过充电电流或放电电流对电容进行充放电操作,测量待测电容的充放电恢复时间,推算出其容量大小。
4. 电桥法:使用电桥进行电容测量,通过调整电阻、电容和频率等参数,使电桥达到平衡状态,从而计算出待测电容的数值。
5. 滤波法:将待测电容与电阻并联,通过滤波电路滤去高频信号,测量滤波后的电压,从而计算出待测电容的数值。
6. 感应法:将待测电容与电感串联,施加交流电压信号,测量电感电压,从中计算出待测电容的数值。
7. 接触电阻法:通过接触电阻测试仪测量待测电容的接触电阻大小,并与参考电容进行对比,从而计算出待测电容的数值。
8. 频率法:通过改变频率,测量待测电容在不同频率下的阻抗变化,从中计算出待测电容的数值。
9. 变压器法:将待测电容与变压器的辅助电容并联,施加交流电压,测量变压器的输入输出电压比例,从中计算出待测电容的数值。
10. 比较器法:通过将待测电容与已知电容进行比较,测量电容充电时间或放电时间,从中推算出待测电容的数值。
电容测试检测仪器
LCR测试仪, 型谱仪, 示波器, 多用电表, 频谱分析仪, 功率计, 负载箱, 扭矩计, 强度计, 压力计, 温度计, 湿度计, 气体检测仪, 液体试验仪, 粘度计, 外观检测仪, 粒度计, 分子量测定仪, 热分析仪, X射线衍射仪检测标准
GB/T 16526-1996:封装引线间电容和引线负载电容测试方法
GB/T 7274-2015:电子管极间电容测试方法
DL/T 1953-2018:电容电流测试仪通用技术条件
DL/T 2603-2023:电容型设备相对介质损耗因数及电容量比值带电测试方法
SJ/T 10482-1994:半导体中深能级的瞬态电容测试方法
SJ 455-1973(2009):高压整流管静态极间电容的测试方法
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SJ 21384-2018:氧化层可动电荷的电容-电压测试方法
DL/T 308-2012:中性点不接地系统电容电流测试规程
SJ/T 11582-2016(2017):动力型超级电容器电性能测试方法
GB/T 14146-2021:硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法
SJ/T 10482-1994(2017):半导体中深能级的瞬态电容测试方法
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DL/T 846.12-2016:高电压测试设备通用技术条件 第12部分:电力电容测试仪
JJG (电子) 310003-2006:半导体分立器件电容参数测试仪检定规程
JJG 1137-2017:高压相对介损及电容测试仪检定规程
DL/T 1694.8-2021:高压测试仪器及设备校准规范 第8部分:电力电容电感测试仪
JJF (电子)0097-2023:谐振腔法电容器等效串联电阻测试系统校准规范
JJG (电子) 05005-1987:B102型钽电解电容漏电流测试仪(试行)
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JB/T 8168-1999(2017):脉冲电容器及直流电容器
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GB/T 11149-1989:标准电容箱
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