(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
检测样品
电子及电气元器件
实验周期
7-15个工作日，加急实验一般5个工作日
检测项目
有焰燃烧性试验盐雾试验品质因数测试温度冲击试验密封试验耐湿试验高频振动试验低气压试验随机振动试验冲击试验高温寿命绝缘电阻沙尘试验电容量稳态湿热试验电阻值介质耐电压试验粒子碰撞噪声检测试验电阻-温度特性测试低频振动试验损耗角正切电阻-温度特性测试
检测标准
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法111A
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 101
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 306
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法107G
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法 306
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 112
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 106
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 204
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法105C
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法105
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法 214A
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 213
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法 204A
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法108A
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 108
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 302
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 110
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法 305A
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 103
电子设备用固定电阻器 第1部分：总规范 GB/T 5729-2003 4.5
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法103B
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 301
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 217
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法 304
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法107
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 305
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 201
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 214
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法 302
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法 112E
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法 106G
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法 213B
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 111
电子设备用固定电容器 第1部分：总规范 GB/T 2693-2001 4.7
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法 301
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法 217A
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 303
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法 201A
电子设备用固定电容器 第1部分：总规范 GB/T 2693-2001 4.8.1
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法 303A
电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202G-2002 方法110E
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法 304
以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
