(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
检测样品
混合集成电路DC/DC变换器混合集成电路混合集成电路外壳混合集成电路1102微波混合集成电路
实验周期
7-15个工作日，加急实验一般5个工作日
检测项目
输出电流密封前老炼绝缘电阻频率稳定度输入电压跃变时的恢复时间内部目检粒子碰撞噪声检测（PIND）噪声系数金属外壳绝缘电阻增益插入损失镀层厚度调制度输出功率外部目检负载阶跃时的恢复时间杂波抑制度密封 细检漏机械冲击或恒定加速度电压调整率功率增益输出纹波电压（峰-峰值）交叉调整率剪切强度输出电压频率范围隔离度密封可焊性非破坏性键合拉力1dB压缩输出功率引线键合强度功率增益平坦度引线电阻物理尺寸X射线照相增量衰减三阶互调（交调）截点功率电平开关频率扫描电子显微镜检查谐波抑制度效率密封 粗检漏插入损耗电流调整率内部水汽含量幅度及相位均衡性启动延迟输出电压温度系数元件剪切强度芯片剪切强度老炼ESDS金属外壳绝缘电压驻波比恒定加速度稳定性烘焙引线牢固性输入电压跃变时的输出响应键合强度电压驻波比
检测标准
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.2
军用电子元器件筛选技术要求 GJB 7243-2011 16.3
混合集成电路外壳通用规范 GJB 2440A-2006 3.6.1
微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法2002
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.14
混合集成电路通用规范 GJB 2438B-2017 表C.9
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.4
微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法2010
混合集成电路通用规范 GJB 2438A-2002 表C.6
微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法2005
微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1002
混合集成电路外壳通用规范 GJB 2440A-2006 3.4.4
微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1014
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.16
微波电路放大器测试方法 SJ 20645-1997 5.14
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.4
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.3
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.7
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.6
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.10
金属镀覆层厚度测量方法 SJ 20129-1992 方法201
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.1
微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法2001
微波电路放大器测试方法 SJ 20645-1997 5.7
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.5
微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1003
微波电路放大器测试方法 SJ 20645-1997 5.12
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.10
混合集成电路通用规范 GJB 2438B-2017 表C.12
微波电路放大器测试方法 SJ 20645-1997 5.1
微波电路放大器测试方法 SJ 20645-1997 5.11
微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法2006
混合集成电路通用规范 GJB 2438B-2017
微波电路放大器测试方法 SJ 20645-1997 5.2
混合集成电路外壳通用规范 GJB 2440A-2006 3.6.2
混合集成电路外壳通用规范 GJB 2440A-2006 3.5.3
微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1004
微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法2007
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.17
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.9
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.9
微波电路放大器测试方法 SJ 20645-1997 5.10
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.5
混合集成电路通用规范 GJB 2438B-2017 表C.14
微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1006
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.12
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.8
《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 SJ 20646-1997 第5.1条
混合集成电路通用规范 GJB 2438B-2017 表C.15
微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1001
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 5.13
微波电路放大器测试方法 SJ 20645-1997 5.13
以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师
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注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
