(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
检测样品
快闪存储器
实验周期
7-15个工作日，加急实验一般5个工作日
检测项目
输出漏电流输入低电平输入高电平动态电源电流静态电源电流传输时间特殊数据图形功能输出高电平保持时间输入低电平电流输入高电平电流输出低电平存储单元1变0功能存储单元0变1功能延迟时间建立时间
检测标准
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》 GB/T 36477-2018 5.6
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》 GB/T 36477-2018 5.2.2
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》 GB/T 36477-2018 5.7
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》 GB/T 36477-2018 5.14
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》 GB/T 36477-2018 5.1.2
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》 GB/T 36477-2018 5.8
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》 GB/T 36477-2018 5.3
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》 GB/T 36477-2018 5.13
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》 GB/T 36477-2018 5.12
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》 GB/T 36477-2018 5.9
《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》 GB/T 36477-2018 5.8
以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师
我们的实力
部分实验仪器
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注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
