(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
检测样品
半导体集成电路电压调整器
实验周期
7-15个工作日，加急实验一般5个工作日
检测项目
短路电流 IOS基准电压纹波抑制比 SRIP静态电流输出电压负载调整系数和稳定系数电流调整率 SI输出电流调整率输入调整系数和稳定系数纹波抑制比基准电压 VREF电压调整率 SV温度循环耗散电流 ID和耗散电流变化 △ID电压调整率输出电压（VO）和输出电压偏差（△VO）备用消耗电流 ID和备用消耗电流变化 △ID短路电流稳定性烘焙电流调整率 SI
检测标准
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.8
半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-2018 4.10
半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 4.3
《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 第IV篇第3节7
《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 第IV篇第3节12
《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 第IV篇第3节4
半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 4.2
半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-2018 4.2
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.3
《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 第IV篇第3节2
《半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路》 GB/T 17940-2000 第IV篇第3节3
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.10
半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-2018 4.3
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.1
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.7
半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 4.10
半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-2018 4.1
半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 4.1
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.17
半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 4.7
半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-2018 4.8
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.2
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1
半导体集成电路电压调整器测试方法 GB/T 4377-2018 4.2
以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师
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注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
