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检测样品

模拟集成电路

实验周期

7-15个工作日，加急实验一般5个工作日

检测项目

基准电压 VREF输入失调电流 IIO纹波抑制比 SRIP输入失调电流温度系数短路输出电流导通态电流输入调整系数和输入稳定系数输入偏置电流 两种方法共模抑制比 KCMR输入失调电流 两种方法开环电压放大倍数 两种方法共模抑制比 两种方法输入失调电压温度系数开环电压增益 AVD负载调整系数和负载稳定系数输入偏置电流 IIB基准电压（VREF）备用电流（静态电流）电源电流共模输入电压范围短路输出电流 IOS电源电流抑制比 两种方法输入失调电压 VIO电源电压抑制比 KSVR输入偏置电流温度系数

检测标准

半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇第3节 9

半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇第2节 6

半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇第3节 3

半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000IEC 748-3:1986 第IV篇 第2节 放大器 7

IEC 748-3:1986 第IV篇 第2节 放大器 15

半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 Ⅳ 第四节 7

半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇 第3节2

IEC 748-3:1986 第IV篇 第2节 放大器 5.2

半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇第2节 12

IEC 748-3:1986 第IV篇 第2节 放大器 5

IEC 748-3:1986 第IV篇 第2节 放大器 8

IEC 748-3:1986 第IV篇 第2节 放大器 9

IEC 748-3:1986 第IV篇 第2节 放大器 6

半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇第2节 10

半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇 第3节4

半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇第2节 7

半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇 第3节9

半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇 第3节7

IEC 748-3:1986 第IV篇 第3节 6

IEC 748-3:1986 第IV篇 第2节 放大器 14

半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇第2节 17

IEC 748-3:1986 第IV篇 第2节 放大器 10

半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇第2节 5

半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇第2节 13

半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇第3节 7

IEC 748-3:1986 第IV篇 第2节 放大器 19

以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师

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注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。