(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
检测样品
信号（包括开关）和调整二极管
实验周期
7-15个工作日，加急实验一般5个工作日
检测项目
工作电压 VZ微分电阻 RZ正向电压VF反向漏电流 IR正向电压 VF击穿电压V（BR）反向电流IR正向电压 VF
检测标准
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第2节 1
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第2节 2
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995 第Ⅳ章第1节2
半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-2015 7.1.4.1
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第1节 2
《半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995 第Ⅳ章第1节2
半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-2015 7.1.3.1
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第1节 1
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第2节 5
《半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995 第Ⅳ章第1节1
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995 第Ⅳ章第1节1
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 4016
半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-2015 7.1.2.1
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 4011
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第2节 4
半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-2015 7.1.2.1
以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师
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注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
