(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
检测样品
半导体集成电路（时基电路）时基电路
实验周期
7-15个工作日，加急实验一般5个工作日
检测项目
输出低电平电压复位电流输出高电平电压阈值电流复位电压触发电流阈值电压触发电压控制端电压静态电源电流最高振荡频率电源电流触发电流
检测标准
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第IV篇第2节 1
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-92 2.2
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992 2.6节
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-92 2.1
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992 2.1节
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-92 2.4
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992 2.5节
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-92 2.3
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992 2.2节
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-92 2.7
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-92 2.8
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-92 2.5
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-92 2.6
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992 2.4节
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992 2.9节
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992 2.3节
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992 2.7节
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992 2.8节
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-92 2.4
以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师
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注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
