(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
信息概要
高频电路基板介质损耗因数试验是评估高频电路板性能的重要检测项目，主要用于测量基板材料在高频信号下的能量损耗特性。该检测对于确保高频电路的信号完整性、减少传输损耗以及提高设备可靠性具有重要意义。第三方检测机构通过专业设备和方法，为客户提供准确、可靠的检测数据，帮助优化产品设计和生产工艺。
检测项目
介质损耗因数，介电常数，表面电阻率，体积电阻率，耐电压强度，热膨胀系数，导热系数，吸湿率，剥离强度，弯曲强度，耐化学性，耐热性，耐湿性，耐电弧性，耐燃性，阻抗匹配，信号传输损耗，高频信号衰减，介电强度，绝缘电阻
检测范围
FR4高频电路板，聚四氟乙烯基板，陶瓷基板，聚酰亚胺基板，环氧树脂基板，复合介质基板，高频微波板，射频电路板，柔性高频电路板，刚性高频电路板，金属基高频板，高频多层板，高频双面板，高频单面板，高频混压板，高频铝基板，高频铜基板，高频玻纤板，高频碳氢板，高频PTFE板
检测方法
谐振法：通过谐振频率测量介质损耗因数和介电常数。
传输线法：利用传输线特性评估高频信号传输性能。
平行板法：通过平行板电容器测量介电性能。
热重分析法：测定材料的热稳定性和热分解特性。
动态机械分析法：评估材料的机械性能随温度的变化。
红外光谱法：分析材料的分子结构和化学组成。
扫描电子显微镜法：观察材料表面形貌和微观结构。
X射线衍射法：测定材料的晶体结构和相组成。
热膨胀仪法：测量材料的热膨胀系数。
导热系数测试仪法：评估材料的导热性能。
吸湿率测试法：测定材料在潮湿环境下的吸湿性能。
剥离强度测试法：评估基板与铜箔的结合强度。
弯曲强度测试法：测定材料的抗弯曲性能。
耐化学性测试法：评估材料对化学试剂的耐受性。
耐电弧性测试法：测定材料的耐电弧击穿性能。
检测仪器
网络分析仪，介质损耗测试仪，介电常数测试仪，表面电阻测试仪，体积电阻测试仪，耐电压测试仪，热膨胀仪，导热系数测试仪，电子天平，剥离强度测试仪，弯曲强度测试机，耐电弧测试仪，红外光谱仪，扫描电子显微镜，X射线衍射仪
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
