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信息概要
集成电路CDM耐压等级（ANSI/ESDA/JEDEC JS-001）是评估集成电路在带电设备模型（CDM）静电放电事件中耐受能力的重要标准。CDM测试模拟了集成电路在制造、运输或使用过程中因静电积累导致的快速放电现象。检测此类产品的耐压等级对于确保集成电路的可靠性和稳定性至关重要，尤其是在高静电敏感环境中。通过第三方检测机构的专业服务，可以准确评估产品的静电放电耐受能力，帮助制造商优化设计并提高产品质量。
检测项目
CDM耐压等级测试：评估集成电路在CDM事件中的最高耐受电压。
静电放电灵敏度测试：确定集成电路对静电放电的敏感程度。
失效模式分析：识别CDM事件导致的集成电路失效模式。
漏电流测试：测量CDM事件后集成电路的漏电流变化。
电压波形记录：记录CDM事件期间的电压波形特征。
电流波形记录：记录CDM事件期间的电流波形特征。
放电时间测量：测量CDM事件的放电持续时间。
峰值电流测试：测定CDM事件中的峰值电流值。
能量吸收测试：评估集成电路在CDM事件中吸收的能量。
电荷量测试：测量CDM事件中转移的电荷量。
失效阈值测试：确定集成电路的CDM失效电压阈值。
重复性测试：验证多次CDM事件后集成电路的性能稳定性。
温度影响测试：评估温度对CDM耐受能力的影响。
湿度影响测试：评估湿度对CDM耐受能力的影响。
封装类型影响测试：分析不同封装对CDM耐受能力的影响。
引脚布局影响测试：评估引脚布局对CDM耐受能力的影响。
材料特性测试：分析集成电路材料对CDM耐受能力的影响。
工艺影响测试：评估制造工艺对CDM耐受能力的影响。
静电防护效果测试：验证静电防护措施的有效性。
信号完整性测试：评估CDM事件对信号完整性的影响。
电源噪声测试：测量CDM事件对电源噪声的影响。
接地效果测试：评估接地设计对CDM耐受能力的影响。
电磁兼容性测试：分析CDM事件对电磁兼容性的影响。
寿命预测测试：预测集成电路在CDM事件后的使用寿命。
可靠性评估：综合评估集成电路的CDM可靠性。
失效分析报告：提供详细的失效分析报告。
数据记录完整性测试：验证测试数据的完整性和准确性。
校准验证测试：确保测试设备的校准状态符合要求。
环境适应性测试：评估集成电路在不同环境下的CDM耐受能力。
标准符合性测试：验证测试结果是否符合ANSI/ESDA/JEDEC JS-001标准。
检测范围
模拟集成电路,数字集成电路,混合信号集成电路,射频集成电路,功率集成电路,存储器集成电路,微处理器,微控制器,传感器集成电路,光电集成电路,通信集成电路,汽车电子集成电路,工业控制集成电路,消费电子集成电路,医疗电子集成电路,航空航天集成电路,军事电子集成电路,可编程逻辑器件,电源管理集成电路,接口集成电路,时钟集成电路,放大器集成电路,滤波器集成电路,数据转换器集成电路,无线通信集成电路,有线通信集成电路,嵌入式系统集成电路,图像处理集成电路,音频处理集成电路,视频处理集成电路
检测方法
带电设备模型（CDM）测试：模拟集成电路因静电积累导致的快速放电事件。
电压扫描测试：通过逐步增加电压确定集成电路的CDM失效阈值。
电流波形分析：分析CDM事件中的电流波形特征。
电压波形分析：分析CDM事件中的电压波形特征。
失效模式分析：通过显微镜或电学测试识别失效模式。
漏电流测量：使用高精度电流表测量CDM事件后的漏电流。
电荷量测量：通过积分电流波形计算转移的电荷量。
能量吸收计算：根据电压和电流波形计算吸收的能量。
重复性验证：多次重复CDM测试以验证结果的稳定性。
环境条件控制：在特定温湿度条件下进行CDM测试。
封装类型对比：对不同封装类型的集成电路进行CDM测试对比。
引脚布局分析：通过改变引脚布局评估CDM耐受能力。
材料特性分析：使用材料分析仪器评估材料对CDM的影响。
工艺参数优化：通过调整工艺参数优化CDM耐受能力。
静电防护评估：测试静电防护措施对CDM耐受能力的提升效果。
信号完整性分析：使用示波器分析CDM事件后的信号完整性。
电源噪声测量：测量CDM事件后的电源噪声变化。
接地效果评估：通过改变接地设计评估CDM耐受能力。
电磁兼容性分析：使用EMC测试设备评估CDM事件的影响。
寿命预测模型：建立数学模型预测CDM事件后的使用寿命。
检测仪器
CDM测试仪,静电放电模拟器,高精度示波器,电流探头,电压探头,漏电流测试仪,电荷量测量仪,能量吸收分析仪,环境试验箱,显微镜,材料分析仪,信号完整性分析仪,电源噪声分析仪,EMC测试设备,寿命预测软件
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
