(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
信息概要
嵌入式封装高温脉冲检测是针对电子元器件在高温环境下脉冲信号稳定性的专项检测服务。该检测主要应用于航空航天、汽车电子、工业控制等领域的高可靠性需求场景，确保产品在极端温度条件下仍能保持稳定性能。检测的重要性在于提前发现潜在失效风险，避免因高温脉冲干扰导致的系统故障，同时为产品设计优化和工艺改进提供数据支持。
检测项目
高温脉冲耐受性,脉冲信号失真度,封装材料热膨胀系数,绝缘电阻,介质耐压,热阻系数,焊点抗疲劳性,引线键合强度,气密性测试,温度循环稳定性,高频脉冲响应,电磁兼容性,热老化性能,湿热循环性能,机械振动耐受性,盐雾腐蚀测试,封装翘曲度,内部空洞检测,金相组织分析,离子迁移率
检测范围
QFP封装器件,BGA封装器件,CSP封装器件,SIP系统级封装,PLCC封装,SOIC封装,DIP封装,QFN封装,DFN封装,LGA封装,Flip Chip倒装芯片,3D封装器件,MCM多芯片模块,TSV硅通孔封装,晶圆级封装,功率模块封装,光电子器件封装,MEMS传感器封装,射频模块封装,汽车电子专用封装
检测方法
高温脉冲测试法：在125℃-300℃环境下施加特定频率脉冲信号，监测器件响应特性
红外热成像法：通过红外相机捕捉封装表面温度场分布，分析热传导性能
X射线检测法：利用X射线透视检查封装内部结构完整性
扫描声学显微镜：采用超声波探测封装内部分层和空洞缺陷
热机械分析法：测量封装材料在高温下的形变和应力变化
四探针法：精确测量封装导体的电阻特性
气相色谱法：分析封装内部气体成分及含量
剪切强度测试：评估芯片与基板粘接的机械强度
离子色谱法：检测封装材料中的离子污染物
加速寿命试验：通过高温高湿条件模拟长期使用老化过程
振动疲劳测试：模拟实际工况下的机械振动环境
介电强度测试：评估封装绝缘材料的耐高压能力
热阻测试：测量封装结构的热传导特性
金相切片分析：通过显微观察评估内部结构质量
气密性检测：采用氦质谱法检测封装泄漏率
检测仪器
高温脉冲测试系统,红外热像仪,X射线检测设备,扫描电子显微镜,热机械分析仪,四探针测试仪,气相色谱质谱联用仪,超声波扫描显微镜,离子色谱仪,高低温试验箱,振动测试台,介电强度测试仪,热阻分析仪,金相显微镜,氦质谱检漏仪
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
