(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
信息概要
高频覆铜板介质损耗检验是评估高频电路板性能的关键项目之一，主要用于测量材料在高频信号下的能量损耗特性。该检测对确保高频电子设备（如5G通信、雷达系统、卫星通信等）的信号传输效率和稳定性至关重要。通过第三方检测机构的专业服务，客户可以获取准确、可靠的介质损耗数据，从而优化产品设计、提升性能并满足行业标准要求。检测范围涵盖各类高频覆铜板材料，包括但不限于PTFE、陶瓷填充、碳氢化合物等基材。
检测项目
介质损耗因数（Df），介电常数（Dk），表面电阻率，体积电阻率，耐电压强度，热膨胀系数，导热系数，剥离强度，吸水率，耐化学性，耐湿热性，耐高温性，耐冷热冲击性，阻燃性，铜箔粗糙度，铜箔附着力，介电厚度均匀性，介电层厚度，介电层孔隙率，介电层杂质含量
检测范围
PTFE基高频覆铜板，陶瓷填充高频覆铜板，碳氢化合物高频覆铜板，玻璃纤维增强高频覆铜板，聚酰亚胺高频覆铜板，环氧树脂高频覆铜板，聚苯醚高频覆铜板，液晶聚合物高频覆铜板，复合介质高频覆铜板，低介电常数高频覆铜板，高导热高频覆铜板，柔性高频覆铜板，刚性高频覆铜板，多层高频覆铜板，单面高频覆铜板，双面高频覆铜板，超薄高频覆铜板，厚铜高频覆铜板，无卤素高频覆铜板，环保型高频覆铜板
检测方法
谐振法：通过谐振腔测量材料的介电常数和介质损耗因数，适用于高频段测试。
传输线法：利用传输线特性阻抗变化计算介质参数，适合宽带频率测试。
平行板电容法：通过电容变化测量介电性能，适用于低频段测试。
微带线法：基于微带线结构测量高频信号下的介质损耗。
带状线法：利用带状线传输特性评估介质材料性能。
时域反射法（TDR）：通过时域反射信号分析介质特性。
网络分析法：使用矢量网络分析仪测量S参数并计算介质损耗。
热重分析法（TGA）：评估材料的热稳定性和分解温度。
差示扫描量热法（DSC）：测定材料的热性能和相变温度。
动态机械分析法（DMA）：测量材料的机械性能和阻尼特性。
扫描电子显微镜（SEM）：观察材料表面形貌和微观结构。
X射线衍射法（XRD）：分析材料的晶体结构和相组成。
红外光谱法（FTIR）：鉴定材料的化学组成和官能团。
紫外可见分光光度法（UV-Vis）：测量材料的透光率和吸光度。
气相色谱-质谱联用法（GC-MS）：分析材料中的挥发性有机物。
检测仪器
矢量网络分析仪，阻抗分析仪，LCR表，平行板电容器，谐振腔测试系统，微带线测试夹具，带状线测试夹具，时域反射仪，热重分析仪，差示扫描量热仪，动态机械分析仪，扫描电子显微镜，X射线衍射仪，红外光谱仪，紫外可见分光光度计
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
