(CMA)
(CNAS)
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(高新技术企业)
信息概要
失效分析实验是产品质量控制与可靠性评估的关键环节，通过对产品失效原因的系统分析，帮助企业优化设计、改进工艺并提升产品性能。该类检测服务主要针对电子元器件、金属材料、高分子材料等工业产品，通过专业手段揭示失效机理，为产品研发和生产提供数据支持。检测的重要性体现在避免批量性质量问题、降低售后风险、满足行业标准及法规要求等方面。
检测项目
外观检查，尺寸测量，硬度测试，拉伸强度，弯曲强度，冲击韧性，疲劳寿命，耐腐蚀性，耐磨性，成分分析，金相组织，断口分析，表面粗糙度，涂层厚度，电气性能，热稳定性，密封性，振动测试，盐雾试验，老化试验
检测范围
集成电路，半导体器件，PCB板，连接器，轴承，齿轮，弹簧，紧固件，铝合金，不锈钢，钛合金，塑料制品，橡胶密封件，陶瓷材料，复合材料，焊接接头，镀层样品，电缆，轴承钢，液压元件
检测方法
扫描电子显微镜(SEM)分析：通过高倍率观察材料表面形貌和断口特征
能谱分析(EDS)：测定材料表面元素组成及分布
X射线衍射(XRD)：分析材料晶体结构和物相组成
金相显微镜检查：观察材料微观组织结构和缺陷
红外光谱(FTIR)：鉴定有机材料分子结构
热重分析(TGA)：测定材料热稳定性和分解温度
差示扫描量热法(DSC)：分析材料相变温度和热力学性质
硬度测试：评估材料表面抵抗塑性变形能力
拉伸试验：测定材料强度、延伸率等力学性能
冲击试验：评价材料抗冲击能力和韧性
盐雾试验：模拟海洋环境测试材料耐腐蚀性
振动测试：评估产品在振动环境下的可靠性
泄漏检测：检查密封件的密封性能
电性能测试：测量电气元件的导通、绝缘等参数
超声波检测：利用高频声波探测内部缺陷
检测仪器
扫描电子显微镜，能谱仪，X射线衍射仪，金相显微镜，红外光谱仪，热重分析仪，差示扫描量热仪，显微硬度计，万能材料试验机，冲击试验机，盐雾试验箱，振动试验台，氦质谱检漏仪，高阻计，超声波探伤仪
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
