(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
信息概要
电路板芯片振动冲击检测是评估电子元器件在运输、使用或极端环境下抗振动和冲击能力的关键测试项目。该检测通过模拟实际工况中的力学环境，验证电路板芯片的结构完整性、焊接可靠性以及性能稳定性，确保产品在复杂环境中正常工作。检测的重要性在于提前发现潜在缺陷，避免因振动或冲击导致的设备故障，提升产品质量和可靠性，满足行业标准及客户需求。
检测项目
正弦振动测试，随机振动测试，机械冲击测试，共振频率测试，疲劳寿命测试，位移幅值测试，加速度响应测试，频率响应分析，阻尼系数测试，冲击响应谱分析，振动耐久性测试，冲击脉冲波形测试，模态分析，应力分布测试，焊接点强度测试，封装完整性测试，材料变形测试，环境适应性测试，振动噪声测试，冲击能量吸收测试
检测范围
通信设备电路板，汽车电子控制单元，工业控制主板，医疗电子芯片，航空航天电子模块，消费电子产品主板，军用电子设备，物联网终端模块，电源管理电路板，LED驱动电路，传感器模块，嵌入式系统主板，服务器主板，智能家居控制板，车载娱乐系统，无人机控制板，机器人控制模块，可穿戴设备电路，光伏逆变器电路，储能系统控制板
检测方法
正弦扫频振动测试：通过线性或对数扫频方式检测产品在不同频率下的振动响应。
随机振动测试：模拟实际环境中宽带随机振动条件，评估产品抗振性能。
半正弦冲击测试：采用标准半正弦脉冲模拟瞬态冲击环境。
共振搜寻测试：通过频率扫描确定产品的固有频率和共振点。
疲劳振动测试：长时间施加特定振动条件以评估产品耐久性。
冲击响应谱分析：通过傅里叶变换将时域冲击信号转换为频域响应谱。
模态锤击测试：使用力锤激励并采集响应信号进行模态参数识别。
应变片测试：通过粘贴应变片测量关键部位的动态应变分布。
高速摄像分析：配合高速摄像机记录冲击过程中的物理变形。
声发射检测：监测振动冲击过程中材料内部裂纹产生的声发射信号。
X射线检测：检查冲击后芯片封装内部的隐形损伤。
扫描电镜分析：对失效焊点或断裂面进行微观形貌观察。
温度循环复合测试：结合温度变化与振动冲击的综合环境测试。
激光测振法：非接触式测量振动位移和速度场分布。
阻抗分析测试：通过电气阻抗变化判断内部连接可靠性。
检测仪器
电磁振动台，液压振动台，冲击试验机，模态分析系统，高速数据采集仪，动态信号分析仪，激光测振仪，应变仪，力锤激励装置，环境试验箱，X射线检测仪，扫描电子显微镜，声发射传感器，红外热像仪，数字图像相关系统
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
