(CMA)
(CNAS)
(ISO)
(高新技术企业)
信息概要
游离二氧化硅（SiO₂）分析是检测环境中或工业材料中游离态二氧化硅含量的重要项目。游离二氧化硅常见于矿石、粉尘、建筑材料等，长期吸入可能导致矽肺等职业病，因此检测其含量对职业健康和安全至关重要。第三方检测机构通过专业分析，帮助企业评估风险并制定防护措施，确保符合国家及国际标准。
检测项目
游离二氧化硅含量, 二氧化硅晶体结构, 粉尘中游离二氧化硅浓度, 空气颗粒物中SiO₂占比, 材料中无定形二氧化硅含量, 石英含量测定, 方石英含量, 鳞石英含量, 二氧化硅溶解性, 粉尘分散度, 粒径分布, 比表面积, 游离二氧化硅赋存状态, 化学结合态二氧化硅, 热稳定性, 酸溶性二氧化硅, 碱溶性二氧化硅, 游离二氧化硅形态分析, 粉尘中结晶二氧化硅比例, 游离二氧化硅吸附性能
检测范围
矿山粉尘, 建筑粉尘, 陶瓷原料, 玻璃制品, 耐火材料, 水泥, 石英砂, 硅藻土, 粉煤灰, 铸造砂, 石材加工粉尘, 涂料, 橡胶填料, 塑料添加剂, 化妆品原料, 药品辅料, 食品添加剂, 土壤样品, 空气滤膜样品, 工业废渣
检测方法
X射线衍射法（XRD）：通过分析衍射图谱确定结晶态二氧化硅含量。
红外光谱法（IR）：利用特征吸收峰定性定量分析二氧化硅。
热重分析法（TGA）：通过加热过程中的质量变化测定二氧化硅含量。
扫描电子显微镜-能谱法（SEM-EDS）：结合形貌观察和元素分析。
偏光显微镜法：通过光学特性鉴别不同晶型二氧化硅。
酸消解法：用磷酸等酸溶解非晶态物质后测定残留二氧化硅。
碱熔融法：通过碱熔处理样品后测定二氧化硅含量。
比色法：利用硅钼蓝等显色反应定量分析。
ICP-AES法：电感耦合等离子体发射光谱测定硅元素含量。
ICP-MS法：电感耦合等离子体质谱法高灵敏度检测硅。
重量法：通过高温灼烧等步骤称重测定。
拉曼光谱法：利用特征拉曼位移鉴定二氧化硅晶型。
BET法：测定二氧化硅比表面积。
激光粒度分析法：测定含二氧化硅颗粒的粒径分布。
X射线荧光光谱法（XRF）：无损快速测定硅元素含量。
检测仪器
X射线衍射仪, 傅里叶变换红外光谱仪, 热重分析仪, 扫描电子显微镜, 能谱仪, 偏光显微镜, 电感耦合等离子体发射光谱仪, 电感耦合等离子体质谱仪, 分析天平, 马弗炉, 紫外可见分光光度计, 激光粒度分析仪, 拉曼光谱仪, 比表面积分析仪, X射线荧光光谱仪
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
