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信息概要
石墨化度与杂质元素分布联合检测是一种针对碳材料性能与纯度的高精度分析服务，主要应用于锂电池负极材料、特种石墨、碳纤维等领域。该检测通过评估石墨化程度（晶体结构有序性）和杂质元素（如铁、硫、硅等）的分布情况，为产品质量控制、工艺优化及研发提供关键数据支持。检测的重要性在于：1）确保材料电化学性能稳定性；2）避免杂质元素对产品寿命的负面影响；3）满足高端应用领域（如半导体、核工业）对材料纯度的严苛要求。
检测项目
石墨化度，杂质元素含量（铁、硫、硅、铝、钙、钠、钾、镁、镍、铜、锌、铅、铬、锰、钴、钛、钒、硼、磷、氯），元素分布均匀性，晶体结构参数（层间距d002，晶粒尺寸La/Lc），灰分，挥发分，固定碳含量，比表面积，孔隙率，密度，电导率，热导率，氧化起始温度，机械强度，微观形貌，元素赋存状态，同位素比例，表面官能团，吸附性能，化学稳定性
检测范围
人造石墨，天然石墨，中间相碳微球，硬碳，软碳，碳纤维，石墨烯，膨胀石墨，高纯石墨，等静压石墨，模压石墨，热解石墨，石墨电极，石墨坩埚，石墨散热片，锂电负极材料，核石墨，石墨密封材料，石墨涂料，石墨复合材料
检测方法
X射线衍射法（XRD）：通过衍射峰位与强度计算石墨化度及晶体参数。
激光显微拉曼光谱（Raman）：表征碳材料无序度与缺陷密度。
电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）：高灵敏度测定痕量杂质元素含量。
扫描电子显微镜-能谱联用（SEM-EDS）：实现微区元素分布可视化分析。
X射线光电子能谱（XPS）：检测表面元素化学态与官能团。
灰分测定法（GB/T 3521）：高温灼烧法测定无机杂质总量。
原子吸收光谱（AAS）：针对特定金属元素的定量分析。
电子探针微区分析（EPMA）：μm级空间分辨率元素分布测绘。
热重分析法（TGA）：评估挥发分含量及热稳定性。
气体吸附法（BET）：测定比表面积与孔径分布。
四探针电阻仪：测量材料体积电阻率。
激光闪射法（LFA）：测定热扩散系数与热导率。
离子色谱法（IC）：分析阴离子杂质（如氯、硫）。
同步辐射X射线荧光（SR-XRF）：超高灵敏度元素成像。
二次离子质谱（SIMS）：深度剖析元素三维分布。
检测仪器
X射线衍射仪，激光拉曼光谱仪，电感耦合等离子体质谱仪，扫描电子显微镜，能谱仪，X射线光电子能谱仪，原子吸收光谱仪，电子探针分析仪，热重分析仪，比表面积分析仪，四探针测试仪，激光导热仪，离子色谱仪，同步辐射装置，二次离子质谱仪
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
