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cma资质(CMA)     CNAS资质(CNAS)     iso体系(ISO) 高新技术企业(高新技术企业)

信息概要

微距摄影0.1mm级瑕疵识别是一种高精度的检测技术,通过微距摄影设备捕捉产品表面的细微瑕疵,分辨率可达0.1mm级别。该技术广泛应用于精密制造、电子元件、医疗器械等领域,能够有效识别划痕、裂纹、气泡、污渍等微小缺陷。检测的重要性在于确保产品质量,避免因微小瑕疵导致的功能失效或安全隐患,同时提升产品外观品质和客户满意度。

检测项目

表面划痕,裂纹检测,气泡识别,污渍残留,涂层均匀性,边缘毛刺,颜色偏差,纹理缺陷,尺寸偏差,孔洞检测,焊接缺陷,印刷偏移,材料夹杂,表面氧化,镀层脱落,变形检测,粘接不良,颗粒污染,光泽度差异,装配间隙

检测范围

电子元器件,精密模具,光学镜片,医疗器械,汽车零部件,航空航天部件,珠宝首饰,陶瓷制品,塑料制品,金属制品,玻璃制品,印刷电路板,半导体芯片,包装材料,橡胶制品,复合材料,精密机械零件,手表零件,3D打印产品,精密刀具

检测方法

高倍率微距摄影法:通过高分辨率相机捕捉产品表面细节

三维扫描法:利用三维扫描仪重建表面形貌

光学显微镜检测:使用光学显微镜观察微观结构

激光共聚焦显微镜:通过激光扫描获取高精度表面数据

白光干涉仪:测量表面粗糙度和微小形变

图像处理算法:通过软件分析识别瑕疵特征

自动对焦技术:确保图像清晰度

多角度照明法:从不同角度照射以凸显缺陷

偏振光检测:识别材料内部应力分布

红外热成像:检测材料内部缺陷

X射线检测:透视内部结构

超声波检测:发现内部裂纹和空洞

光谱分析法:分析材料成分和涂层厚度

色差仪检测:量化颜色偏差

表面粗糙度仪:测量表面微观几何形状

检测仪器

高分辨率微距相机,三维扫描仪,光学显微镜,激光共聚焦显微镜,白光干涉仪,图像处理工作站,自动对焦系统,多角度光源系统,偏振光显微镜,红外热像仪,X射线检测仪,超声波探伤仪,光谱分析仪,色差仪,表面粗糙度测量仪

我们的实力

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部分实验仪器

实验仪器 实验仪器 实验仪器 实验仪器

合作客户

我们的实力

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。