FinFET源漏区纳米探针局域载流子浓度

信息概要

FinFET源漏区纳米探针局域载流子浓度检测是半导体器件性能评估的关键环节，通过精准测量载流子浓度分布，可优化器件设计并提升性能。该检测对确保FinFET器件的可靠性、一致性和良率至关重要，尤其在先进制程节点中，局域载流子浓度的微小偏差可能导致器件失效。第三方检测机构提供专业服务，涵盖从研发到量产的全周期检测需求。

检测项目

载流子浓度分布，掺杂均匀性，界面态密度，迁移率，漏电流，阈值电压，接触电阻，栅极控制能力，热稳定性，应力效应，缺陷密度，能带结构，载流子寿命，表面电势，量子效率，噪声特性，击穿电压，寄生电容，热载流子效应，可靠性评估

检测范围

14nm FinFET，10nm FinFET，7nm FinFET，5nm FinFET，3nm FinFET，SOI FinFET，多栅FinFET，环栅FinFET，纳米线FinFET，高迁移率FinFET，低功耗FinFET，射频FinFET，高压FinFET，光电器件FinFET，存储器FinFET，逻辑器件FinFET，模拟器件FinFET，三维集成FinFET，柔性FinFET，生物传感器FinFET

检测方法

扫描电容显微镜（SCM）：通过探针测量局域电容变化反演载流子浓度。

二次谐波产生（SHG）：利用非线性光学效应表征界面载流子分布。

微区拉曼光谱：通过声子散射信号分析应力与载流子浓度关联性。

开尔文探针力显微镜（KPFM）：测量表面电势与载流子浓度的空间分布。

透射电子显微镜-电子能量损失谱（TEM-EELS）：纳米级分辨率的成分与载流子分析。

扫描隧道谱（STS）：直接获取能带结构与局域态密度。

热波检测：通过热扩散系数评估载流子迁移特性。

深能级瞬态谱（DLTS）：定量分析缺陷态对载流子的俘获效应。

四探针法：宏观载流子浓度与电阻率的基准测量。

时间分辨荧光光谱：载流子复合动力学研究。

霍尔效应测试：载流子类型与浓度的标准表征方法。

椭圆偏振光谱：非破坏性薄膜载流子浓度分析。

原子探针断层扫描（APT）：三维原子尺度成分重建。

太赫兹时域光谱：载流子超快动力学特性检测。

X射线光电子能谱（XPS）：表面化学态与载流子浓度关联分析。

检测仪器

原子力显微镜，扫描电子显微镜，透射电子显微镜，霍尔效应测试系统，四探针测试仪，拉曼光谱仪，椭圆偏振仪，X射线衍射仪，二次离子质谱仪，深能级瞬态谱仪，太赫兹时域光谱仪，扫描隧道显微镜，原子探针断层分析仪，光致发光谱仪，时间分辨荧光光谱仪

我们的实力

部分实验仪器

合作客户

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。