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信息概要
3D IC堆叠热阻结-壳（θJC）测试是针对三维集成电路堆叠结构的热阻性能进行的专业检测服务。随着电子设备向高性能、高集成度方向发展，3D IC堆叠技术因其空间利用率高、传输速度快等优势被广泛应用。然而，堆叠结构带来的热管理问题成为影响器件可靠性和寿命的关键因素。θJC测试通过测量结温与壳温之间的热阻，评估芯片散热性能，为设计优化、故障排查及可靠性验证提供数据支持。检测的重要性在于确保器件在高温环境下的稳定性，避免因热失效导致的性能下降或损坏，同时满足行业标准与客户需求。
检测项目
热阻结-壳（θJC）值，结温（Tj），壳温（Tc），热传导系数，热扩散率，热容，热流密度，温度分布均匀性，热应力分析，散热效率，功率耗散，热时间常数，瞬态热响应，稳态热性能，材料热特性，界面热阻，封装热阻，环境温度影响，湿度影响，气压影响，振动条件下的热性能，长期老化热稳定性
检测范围
硅通孔（TSV）堆叠IC，存储器堆叠IC，逻辑-存储器混合堆叠IC，传感器堆叠IC，射频堆叠IC，光电子堆叠IC，微处理器堆叠IC，GPU堆叠IC，AI加速器堆叠IC，异构集成堆叠IC，晶圆级堆叠IC，芯片级堆叠IC，2.5D中介层堆叠IC，3D系统级封装（SiP），扇出型堆叠IC，嵌入式堆叠IC，柔性堆叠IC，高温应用堆叠IC，低功耗堆叠IC，高密度互连堆叠IC
检测方法
稳态法：通过恒定功率加热并测量结温与壳温的稳定差值计算θJC。
瞬态法：记录功率阶跃变化后的温度随时间变化曲线，分析热响应特性。
红外热成像法：利用红外相机非接触式测量表面温度分布。
热电偶法：直接接触式测量关键点温度。
热流计法：量化单位时间内通过截面的热流量。
激光闪光法：测定材料热扩散率与导热系数。
有限元模拟：结合实测数据建立热模型进行仿真分析。
结温电学法：通过电压-温度特性反推结温。
加速老化测试：高温高湿条件下评估长期热稳定性。
环境箱测试：控制温湿度模拟不同工作条件。
振动热耦合测试：分析机械振动对热性能的影响。
界面热阻测试：专门测量堆叠层间接触热阻。
热循环测试：循环温度变化检验热疲劳特性。
功率循环测试：周期性功率加载评估热可靠性。
微观结构分析：通过SEM/EDS观察热失效机理。
检测仪器
热阻测试仪，红外热像仪，热电偶采集系统，热流计，激光闪光分析仪，恒温恒湿箱，振动试验台，有限元分析软件，半导体参数分析仪，高精度电源，数据采集卡，显微镜系统，X射线衍射仪，扫描电子显微镜（SEM），能谱仪（EDS）
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
