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信息概要
金属化晶圆电迁移激活能测试结构是一种用于评估集成电路中金属互连线电迁移可靠性的关键测试工具。电迁移是金属导线在高电流密度下因电子风力作用导致的原子迁移现象，可能引发断路或短路等失效问题。激活能测试通过模拟不同温度与电流条件下的电迁移行为，为产品寿命预测和工艺优化提供数据支持。检测的重要性在于确保芯片在长期使用中的稳定性，避免因电迁移导致的性能退化或失效，同时帮助制造商改进材料选择和工艺设计，提升产品可靠性。
检测项目
电迁移激活能, 电流密度耐受性, 温度加速因子, 电阻变化率, 失效时间分布, 晶格扩散系数, 应力迁移效应, 界面扩散能, 晶界扩散能, 金属线宽变化, 厚度均匀性, 表面粗糙度, 接触电阻, 热循环稳定性, 电流-电压特性, 温度系数, 材料成分分析, 微观结构表征, 应力分布, 失效模式分析
检测范围
铝互连晶圆, 铜互连晶圆, 钨栓塞结构, 钴阻挡层晶圆, 钌衬垫层晶圆, 低k介质集成晶圆, 3D TSV结构晶圆, 硅通孔互连晶圆, 金线键合晶圆, 银互连晶圆, 镍阻挡层晶圆, 钛粘附层晶圆, 氮化钛阻挡层晶圆, 钽阻挡层晶圆, 多层金属堆叠晶圆, 合金互连晶圆, 碳纳米管互连晶圆, 石墨烯互连晶圆, 柔性电子金属化晶圆, 光刻胶嵌入式金属化晶圆
检测方法
恒流加速寿命测试法：通过恒定高电流加速电迁移过程，记录失效时间。
变温法：在不同温度下测量电迁移参数，计算激活能。
电阻监测法：实时监测金属线电阻变化以判断电迁移程度。
扫描电子显微镜(SEM)分析：观察金属线表面形貌和失效位置。
透射电子显微镜(TEM)分析：研究金属微观结构变化。
X射线衍射(XRD)法：分析金属晶格应变和织构演变。
聚焦离子束(FIB)切片：制备失效部位横截面样品。
能量色散X射线光谱(EDS)：检测元素迁移和偏析。
原子力显微镜(AFM)测量：量化表面粗糙度变化。
四点探针法：精确测量金属线电阻率。
热重分析法(TGA)：评估材料热稳定性。
差示扫描量热法(DSC)：分析金属相变行为。
电子背散射衍射(EBSD)：表征晶粒取向变化。
二次离子质谱(SIMS)：检测微量元素分布。
红外热成像：定位电流密度异常区域。
检测仪器
高精度源测量单元, 恒温恒湿试验箱, 半导体参数分析仪, 扫描电子显微镜, 透射电子显微镜, X射线衍射仪, 聚焦离子束系统, 能量色散光谱仪, 原子力显微镜, 四点探针台, 热重分析仪, 差示扫描量热仪, 电子背散射衍射系统, 二次离子质谱仪, 红外热像仪
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
