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信息概要
电子级颗粒度认证是半导体、集成电路及精密电子制造领域对材料表面和介质中超微颗粒控制的关键技术指标。第三方检测机构通过高精度仪器与标准化流程，提供客观、可追溯的颗粒度检测服务，确保产品符合ISO 14644-1、SEMI S23等行业标准。检测重要性体现在保障生产良率、避免微米级颗粒引发的器件短路或性能缺陷，并作为供应链质量管控的核心依据。
检测项目
粒径分布,颗粒浓度,表面形态分析,颗粒化学成分,金属污染度,非挥发性残留物含量,动态颗粒计数,静态颗粒计数,表面粗糙度关联性,颗粒附着强度,过滤效率,溶剂兼容性,热稳定性,电导率影响,介电强度,光散射特性,颗粒迁移行为,超声清洗效果,湿度敏感度,纳米级颗粒捕获率
检测范围
硅片抛光材料,光刻胶溶液,去离子水系统,电子级溶剂,蚀刻气体,研磨液,显影液,封装胶体,铜箔表面,氧化物薄膜,液晶材料,靶材溅射颗粒,晶圆切割粉尘,芯片键合材料,焊球合金微粒,塑封料碎屑,测试探针接触颗粒,洁净室空气,手套箱环境,运输容器内壁
检测方法
激光散射法：基于Mie散射理论测量粒径分布
扫描电子显微镜（SEM）：纳米级形貌与元素分析
原子力显微镜（AFM）：表面三维形貌与粗糙度表征
X射线能谱（EDS）：颗粒化学成分定性定量分析
动态光散射（DLS）：溶液中颗粒Zeta电位测定
过滤膜称重法：非挥发性残留物质量检测
粒子计数器：气相/液相颗粒浓度实时统计
摩擦静电测试：评估颗粒带电特性
超声波振动试验：模拟清洗工艺中的颗粒去除效率
热重分析（TGA）：评估颗粒热稳定性
电化学阻抗谱：分析颗粒对介质导电性影响
红外光谱（FTIR）：有机污染物识别
等离子体发射光谱（ICP-OES）：痕量金属元素检测
接触角测量：研究颗粒表面润湿性
微流控芯片分析：实时观测颗粒流体动力学行为
检测仪器
激光粒度分析仪,场发射扫描电镜,原子力显微镜,X射线能谱仪,动态光散射仪,高精度电子天平,气溶胶粒子计数器,电感耦合等离子体质谱仪,傅里叶变换红外光谱仪,接触角测量仪,热重分析仪,电化学工作站,微流控芯片系统,超声波清洗机,洁净度测试仪
我们的实力
部分实验仪器
合作客户
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
