飞针测试机层间导通测试

信息概要

飞针测试机层间导通测试是一种针对印刷电路板（PCB）及其他电子组件内部层间电气连接质量的非破坏性检测技术，通过高精度探针对微米级导通孔与线路进行导通性验证。该检测服务可确保产品在复杂多层结构中信号传输的可靠性，避免因层间短路、断路或阻抗异常导致的设备失效。第三方检测机构通过标准化流程与先进设备提供此项服务，帮助客户提升良品率并满足行业合规要求。检测的重要性体现在保障电子产品的长期稳定性、降低返修成本及规避因导通缺陷引发的安全隐患。

检测项目

导通电阻，绝缘阻抗，电压降测试，电流容量，信号完整性，层间短路检测，断路定位，阻抗匹配度，微孔导通率，线路连续性，热稳定性，高频信号衰减，耐压强度，漏电流，接触电阻一致性，镀层厚度均匀性，孔径公差，焊盘附着力，线路边缘粗糙度，介质层介电常数

检测范围

刚性PCB，柔性电路板（FPC），高密度互连板（HDI），陶瓷基板，金属基板，高频高速板，多层复合板，盲埋孔板，软硬结合板，半导体封装基板，车载电子板，航空航天用电路板，医疗设备电路板，消费电子主板，工控设备电路板，通信背板，LED照明基板，电源模块板，射频微波板，传感器电路板

检测方法

飞针测试法：通过移动探针对目标点位进行动态导通性与电阻测量。

四线制开尔文测试：消除接触电阻影响，精确测量微电阻值。

绝缘耐压测试：施加高压验证层间介质绝缘性能。

高频阻抗分析：利用网络分析仪评估信号传输完整性。

热循环冲击测试：模拟温度变化环境下的导通稳定性。

X射线断层扫描（CT）：非破坏性检测内部微孔结构完整性。

自动光学检测（AOI）：通过图像比对识别线路缺陷。

镀层厚度测量：采用X射线荧光光谱法量化金属镀层。

微区电化学分析：评估镀层耐腐蚀性与附着力。

时域反射计（TDR）：定位线路阻抗不连续点。

红外热成像：检测导通异常引发的局部过热现象。

离子污染测试：通过溶剂萃取法评估残留导电物质浓度。

振动疲劳测试：模拟机械应力下的导通可靠性。

扫描电子显微镜（SEM）：微观观察孔壁镀层均匀性。

介电常数测试：采用平行板电容法测量介质材料特性。

检测方法

飞针测试机，高精度电阻测试仪，网络分析仪，绝缘耐压测试仪，X射线检测系统，自动光学检测设备，X射线荧光光谱仪，时域反射计，红外热像仪，离子污染测试仪，振动试验台，扫描电子显微镜，介电常数测试仪，热冲击试验箱，镀层附着力测试仪

我们的实力

部分实验仪器

合作客户

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。