元器件筛选检测
元器件筛选检测范围
耳机插口,电阻器,电容器,电感器,二极管,三极管,集成电路,晶体管,光耦,模块,传感器,开关,继电器,电源,连接器,滤波器,稳压器,变压器,放大器,电机
元器件筛选检测项目
APM检测,MMA检测,IPC检测,RTR检测,SMT检测,AOI检测,X射线检测,ICT检测,FCT检测,BGA焊接质量检测,可靠性测试,环境适应性测试,跌落测试,EMC测试,ESD测试,机械性能测试,高低温测试,湿度测试,震动测试,防护等级测试,紧固件检测,电性能测试,RF测试,光学性能测试,防火性能测试,电磁兼容性测试,硬度测试,密封性测试,耐久性测试,电子流数据分析,红外测试,可靠性强度试验,板载测试,故障模拟测试,工艺流程检测,线性度测试,电感灵敏度测试,电感波动测试,焊点检测,电阻测试,电容测试,金刚石微粉检测,干燥度分析,声学测试,泄漏测试,材料成分检测,联通性测试,器件寿命测试,等测试...
元器件筛选检测方法
目视检查法：通过肉眼观察元器件的外观，包括外壳、引脚、标识等是否符合要求，检查是否有明显的损坏或污染。
外观尺寸测量：使用千分尺或显微镜等仪器，测量元器件的尺寸，包括长度、宽度、高度等，与技术规范进行比对，判断元器件是否符合要求。
电阻测试法：使用万用表等测试仪器，将元器件的引脚连接到测试仪器的电阻档位上，测量元器件的电阻值，比对规格要求，判断元器件是否正常。
电容测试法：使用LCR电表等测试仪器，将元器件引脚连接到电表上，测量元器件的电容值，与规格要求进行比对，判断电容是否合格。
电压测试法：使用数字万用表等测试仪器，接入元器件引脚，测量电压值，比对技术规范，判断元器件是否能正常工作在规定电压范围内。
温度测试法：使用红外测温仪等测试仪器，对元器件进行非接触式温度测量，判断元器件在正常工作条件下的温度是否符合要求。
电流测试法：将元器件连接在电流表等测试仪器上，测量元器件的电流值，与技术规范进行比对，判断电流是否在合理范围内。
耐压测试法：使用耐压测试仪等仪器，将元器件连接至测试仪器上，施加一定电压进行测试，判断元器件是否能够承受规定电压。
寿命测试法：通过对元器件进行长时间的运行测试，模拟实际应用环境，观察元器件在不同时间点是否出现性能下降、损坏等情况，评估其使用寿命。
环境适应性测试：将元器件置于不同环境条件下（如高温、低温、湿度等），观察元器件是否受到环境影响，评估其在各种环境下的适应性。
元器件筛选检测仪器
示波器,频谱分析仪,多用途万用表,电源供应器,信号发生器,逻辑分析仪,电流表,电压表,电阻表,电容表,电感表,热像仪,功率计,频率计,电磁辐射测量仪,高压测试仪,电池测试仪,电子负载,信号源,电子万用表
元器件筛选检测标准
QJ 10003-2008：进口元器件筛选指南
QJ 10002-2008：宇航用元器件筛选指南
QJ 3065.4-1998：元器件筛选与复验管理要求
WJ 2652-2005：引信用电子元器件筛选技术要求
WJ/Z 242-1988：无线电引信用电子元器件筛选技术条件
NB/T 20019-2010：核电厂安全级仪表和控制设备电子元器件老化筛选和降额使用规定
QJ 2782-1995：微波元器件术语
GB/T 13965-2010：仪表元器件 术语
GB/T 4475-1995：敏感元器件术语
QJ 787-1983：半导体分立器件筛选技术条件
QJ 3058-1998：元器件评审管理要求
QJ 3065.1-1998：元器件选用管理要求
QJ 2733-1995：微波元器件图形符号
GB/T 29074-2012：宇航元器件鉴定要求
SJ/T 10554-1994(2009)：敏感元器件文字符号
SJ 2422-1983：电子元器件用镀锡铜线
QJ 1693-1989：电子元器件防静电要求
QJ 3065.5-1998：元器件失效分析管理要求
QJ 3172-2003：微波元器件安装技术要求
SJ/T 10554-1994(2017)：敏感元器件文字符号
QJ 3065.2-1998：电子元器件采购管理要求
SJ 2422-1983(2017)：电子元器件用镀锡铜线
SJ 21152-2016：微波组件元器件选用指南
SJ/T 10149-1991(2009)：电子元器件图形库 半导体分立器件图形
JB/T 6175-2020：电子元器件引线成型工艺规范
GB/T 42969-2023：元器件位移损伤试验方法
QJ 3152-2002：航天新型电子元器件管理要求
SJ/T 10555-1994(2009)：电气用图形符号敏感元器件
SJ/T 10555-1994(2017)：电气用图形符号敏感元器件
GB/T 5593-2015：电子元器件结构陶瓷材料
