



信息概要
光耦腐蚀检测是针对光耦合器(光电耦合器)在特定环境或使用条件下可能发生的腐蚀现象进行的专业检测服务。光耦作为电子设备中实现电信号隔离传输的关键元件,其性能稳定性直接影响整个系统的可靠性。腐蚀可能导致光耦绝缘性能下降、信号传输失真甚至完全失效,因此定期检测对预防设备故障、延长产品寿命至关重要。本检测服务涵盖外观检查、电气性能测试及环境适应性评估,适用于各类光耦产品的质量管控与失效分析。检测项目
绝缘电阻测试,输入正向电压检测,输出反向电流测试,电流传输比(CTR)测定,耐压强度测试,引脚可焊性评估,镀层厚度测量,盐雾试验耐受性,湿热循环稳定性,硫化氢气体腐蚀测试,氯离子含量分析,表面氧化程度判定,接触电阻变化率,漏电流监测,发光二极管(LED)衰减率,光敏器件响应时间,封装气密性检查,材料成分分析,机械振动后性能保持率,高温高湿存储可靠性
检测范围
晶体管输出型光耦,可控硅输出型光耦,高速数字光耦,线性光耦,IGBT驱动光耦,光纤耦合型,继电器输出型,光电MOSFET,隔离放大器,智能功率模块(IPM)内置光耦,汽车级光耦,军工级光耦,工业控制专用型,表面贴装(SMD)封装,直插式(DIP)封装,超薄型封装,宽温度范围型,高CTR型,低功耗型,耐高压型
检测方法
盐雾试验法:模拟海洋气候环境下的加速腐蚀测试
电化学阻抗谱(EIS):分析腐蚀界面的阻抗特性
扫描电子显微镜(SEM):观察微观腐蚀形貌
能量色散X射线光谱(EDX):检测腐蚀产物元素组成
湿热循环测试:评估温度湿度交变条件下的耐腐蚀性
气体腐蚀试验:检测特定工业环境气体腐蚀影响
红外热成像:监测腐蚀导致的局部发热异常
四探针法:精确测量腐蚀后的表面电阻率
荧光渗透检测:发现微小表面裂纹和缺陷
氦质谱检漏:评估封装完整性防止介质渗入
极化曲线法:量化材料的腐蚀速率
X射线光电子能谱(XPS):分析表面化学状态变化
接触角测量:评估表面疏水性变化
加速寿命试验:推算实际使用环境下的腐蚀进程
电迁移测试:检测金属离子迁移导致的腐蚀
检测仪器
盐雾试验箱,电化学工作站,扫描电子显微镜,X射线能谱仪,恒温恒湿箱,气体腐蚀试验舱,红外热像仪,四探针测试仪,荧光渗透检测设备,氦质谱检漏仪,极化电阻测试仪,X射线光电子能谱仪,接触角测量仪,高加速寿命试验箱,离子色谱仪
我们的实力
部分实验仪器




合作客户
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。