FPGA封装耐焊接热测试-CMA/CNAS资质，中析研究所官网

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(高新技术企业)

信息概要

FPGA封装耐焊接热测试是评估FPGA（现场可编程门阵列）封装在焊接过程中承受高温能力的关键测试项目。该测试主要模拟实际焊接环境中的热应力，确保封装材料、焊点及内部结构的可靠性。检测的重要性在于，焊接热冲击可能导致封装开裂、焊点虚焊或内部电路损坏，进而影响产品性能和寿命。通过第三方检测机构的专业服务，客户可以提前发现潜在缺陷，优化生产工艺，提升产品良率，并满足国际标准（如IPC、JEDEC等）的合规性要求。

检测项目

封装外观检查（评估封装表面是否有裂纹或变形），焊球完整性测试（检测焊球是否完整无缺损），热膨胀系数测定（测量封装材料在高温下的膨胀性能），焊接温度曲线分析（记录焊接过程中的温度变化），热循环测试（模拟多次焊接热冲击后的可靠性），焊点剪切力测试（评估焊点的机械强度），封装气密性检测（检查封装是否密封良好），内部湿度敏感性测试（评估封装对湿气的敏感度），热导率测定（测量封装材料的热传导性能），焊接后电气性能测试（验证焊接后电路功能是否正常），封装翘曲度测量（检测高温下的封装变形程度），焊料润湿性测试（评估焊料与封装材料的结合效果），热重分析（测定材料在高温下的重量变化），封装分层检测（检查内部材料是否分层），焊点X射线检测（通过X射线观察焊点内部结构），热应力模拟（通过软件模拟焊接热应力分布），封装材料成分分析（检测封装材料的化学成分），焊接后阻抗测试（测量电路阻抗变化），热老化测试（评估长期高温下的性能衰减），封装硬度测试（测量封装材料的硬度变化），焊点疲劳寿命测试（模拟焊点在使用中的疲劳寿命），热冲击测试（快速温度变化下的封装可靠性），封装厚度测量（检测封装各部分的厚度均匀性），焊点空洞率检测（评估焊点内部空洞比例），封装粘接力测试（测量材料之间的粘接强度），焊接后功能测试（验证焊接后芯片功能是否正常），热阻抗测定（测量封装的热阻性能），封装耐化学性测试（评估封装对化学物质的抵抗能力），焊接后外观检查（检查焊接后的外观缺陷），封装尺寸精度测量（验证封装尺寸是否符合设计标准）。

检测范围

BGA封装，QFP封装，LGA封装，PGA封装，CSP封装，QFN封装，SOIC封装，TSOP封装，PLCC封装，TQFP封装，FBGA封装，UBGA封装，WLCSP封装，PBGA封装，EBGA封装，CBGA封装，CCGA封装，FCBGA封装，TFBGA封装，HSBGA封装，MAPBGA封装，VFBGA封装，MBGA封装，TBGA封装，PDIP封装，SDIP封装，CLCC封装，CERDIP封装，PQFP封装，TSSOP封装。

检测方法

目视检查法（通过显微镜或放大镜观察封装外观缺陷），X射线检测法（利用X射线成像分析焊点内部结构），热循环试验法（模拟焊接温度变化测试可靠性），剪切力测试法（测量焊点的机械强度），热重分析法（测定材料在高温下的重量变化），热膨胀系数测试法（测量材料的热膨胀性能），气密性检测法（检查封装的密封性能），阻抗测试法（测量电路阻抗变化），热导率测定法（评估材料的热传导性能），润湿性测试法（分析焊料与封装材料的结合效果），分层扫描法（通过超声波或X射线检查内部材料分层），热冲击试验法（快速温度变化测试封装可靠性），硬度测试法（测量封装材料的硬度），空洞率检测法（评估焊点内部空洞比例），化学分析法（检测封装材料的化学成分），功能测试法（验证焊接后芯片功能是否正常），翘曲度测量法（检测高温下的封装变形），尺寸精度测量法（验证封装尺寸是否符合标准），疲劳寿命测试法（模拟焊点在使用中的疲劳寿命），热阻抗测定法（测量封装的热阻性能）。